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垂直介孔二氧化硅通道的电化学研究及应用

致谢第1-7页
摘要第7-8页
Abstract第8-13页
第一章 绪论第13-38页
   ·前言第13-14页
   ·纳米通道中的传质第14-23页
     ·双电层简介第14-20页
       ·Gouy-Chapman-Stem模型第14-16页
       ·Gouy-Chapman理论第16-20页
     ·纳米通道中的双电层第20-21页
     ·纳米通道中离子的运输-选择渗透性第21-23页
     ·纳米通道中电中性分子的运输行为第23页
   ·介孔二氧化硅材料简介第23-25页
   ·介孔二氧化硅修饰电极第25-32页
     ·微粒的合成第25-26页
     ·基于微粒的修饰电极第26-27页
     ·基于均一薄膜的修饰电极第27-32页
       ·平行于基底的孔道第27-28页
       ·垂直于基底的孔道第28-31页
       ·薄膜修饰电极的电化学表征第31-32页
   ·介孔二氧化硅的修饰第32-34页
   ·介孔二氧化硅在固定酶中的应用第34-36页
   ·本论文的主要研究内容第36-38页
第二章 介孔二氧化硅薄膜(MSF)的选择渗透性第38-81页
   ·引言第38-41页
   ·实验部分第41-43页
     ·试剂与材料第41-42页
     ·仪器与设备第42页
     ·实验步骤第42-43页
       ·MSF的合成及修饰第42-43页
       ·选择渗透性第43页
       ·离子强度对选择渗透性的影响第43页
   ·结果和讨论第43-79页
     ·MSF/ITO电极的选择渗透性第44-51页
       ·K_3Fe(CN)_6第44-45页
       ·Ru(bpy)_3Cl_2第45-47页
       ·Ru(NH_3)_6Cl_3第47-49页
       ·Fc-MeOH第49-51页
     ·TMAC-MSF/ITO电极的选择渗透性第51-57页
       ·K_3Fe(CN)_6第52-54页
       ·Ru(bpy)_3Cl_2第54-55页
       ·Ru(NH_3)_6Cl_3第55-56页
       ·Fc-MeOH第56-57页
     ·小结第57-58页
     ·溶液离子强度对MSF/ITO电极渗透性的影响第58-69页
       ·K_3Fe(CN)_6第59-62页
       ·Ru(bpy)_3Cl_2第62-65页
       ·Fc-MeOH第65-69页
     ·溶液离子强度对TMAC-MSF/ITO电极渗透性的影响第69-79页
       ·K_3Fe(CN)_6第69-72页
       ·Ru(NH_3)_6Cl_3第72-74页
       ·Ru(bpy)_3Cl_2第74-76页
       ·Fc-MeOH第76-79页
   ·本章小结第79-81页
第三章 MP-11单体在垂直介孔二氧化硅通道阵列中的固定和电子转移研究第81-99页
   ·引言第81-83页
   ·实验部分第83-85页
     ·试剂与材料第83页
     ·仪器与设备第83-84页
     ·实验步骤第84-85页
       ·MSF的合成和表征第84页
       ·MP-11的固定第84-85页
   ·结果和讨论第85-98页
     ·MSF的表征第85-88页
     ·pH对MP-11装载的影响第88-90页
     ·离子强度对MP-11装载的影响第90-92页
     ·MP-11吸附动力学第92-94页
     ·Langmuir吸附等温线第94-95页
     ·MSF通道中MP-11的电化学行为第95-98页
   ·小结第98-99页
参考文献第99-114页
附录第114页

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