| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-19页 |
| ·标准模型(Standard Model) | 第12-13页 |
| ·粲偶素及其衰变 | 第13-17页 |
| ·粲偶素家族 | 第13-14页 |
| ·粲偶素的衰变 | 第14-17页 |
| ·论文选题的背景 | 第17-18页 |
| ·论文结构 | 第18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机-Ⅱ和北京谱仪-Ⅲ介绍 | 第19-33页 |
| ·北京正负电子对撞机(BEPCⅡ) | 第19-21页 |
| ·北京谱仪Ⅲ(BESⅢ) | 第21-31页 |
| ·离线数据分析系统(Offline Data Analysis System) | 第31-32页 |
| ·BESⅢ数据 | 第32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 J/ψ→ X+4(π~+π~-)的研究 | 第33-59页 |
| ·样本空间和软件环境 | 第34-35页 |
| ·事例选择 | 第35-39页 |
| ·事例初选 | 第35-37页 |
| ·事例终选条件 | 第37-39页 |
| ·本底分析 | 第39-50页 |
| ·不变质量谱的分布 | 第50页 |
| ·不变质量谱的拟合 | 第50-55页 |
| ·J/ψ→ 4(π~+π~-),J/ψ→ γ4(π~+π~-),J/ψ→π~04(π~+π~-)的分支比 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-59页 |
| 第四章 系统误差的研究 | 第59-64页 |
| ·带电径迹效率 | 第59页 |
| ·光子效率 | 第59页 |
| ·4C运动学拟合 | 第59-60页 |
| ·质量谱拟合 | 第60-61页 |
| ·η_c的拟合 | 第60页 |
| ·π~0的拟合 | 第60-61页 |
| ·ω的拟合 | 第61页 |
| ·本底的不确定性 | 第61-62页 |
| ·J/ψ事例总数 | 第62页 |
| ·总的系统误差 | 第62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 总结和展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |