面向某半导体企业的芯片引脚检测系统的设计与实现
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-17页 |
| ·机器视觉和视觉检测技术概述 | 第8-9页 |
| ·视觉检测技术在半导体检测中的研究和应用现状 | 第9-15页 |
| ·半导体封装制程介绍 | 第9-11页 |
| ·视觉检测技术在半导体检测中的应用 | 第11-13页 |
| ·国内外研究现状 | 第13-15页 |
| ·论文研究内容、目的及意义 | 第15-16页 |
| ·论文组织架构 | 第16-17页 |
| 第二章 系统总体架构分析 | 第17-28页 |
| ·系统需求分析 | 第17-20页 |
| ·系统硬件设计 | 第20-25页 |
| ·视觉检测系统概述 | 第20页 |
| ·系统硬件的选用 | 第20-25页 |
| ·系统运行原理 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基于模板匹配的芯片识别与定位 | 第28-37页 |
| ·模板匹配 | 第28-32页 |
| ·矩匹配法 | 第29页 |
| ·互相关匹配法 | 第29-30页 |
| ·逐像素匹配法 | 第30-31页 |
| ·序贯相似性检测算法 | 第31-32页 |
| ·SSDA算法的局限 | 第32页 |
| ·芯片的识别与定位 | 第32-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 芯片的边缘检测及引脚边缘检测 | 第37-52页 |
| ·边缘检测算法 | 第37-43页 |
| ·Roberts算子 | 第38-39页 |
| ·Sobel算子 | 第39-40页 |
| ·Prewitt算子 | 第40页 |
| ·拉普拉斯算子 | 第40-41页 |
| ·高斯拉普拉斯(LoG)算子 | 第41-42页 |
| ·各种算法的比较与实验结果分析 | 第42-43页 |
| ·芯片胶体边缘轮廓的提取 | 第43-47页 |
| ·直线的最小二乘拟合法 | 第43-44页 |
| ·胶体轮廓检测实现 | 第44-47页 |
| ·芯片引脚缺陷检测 | 第47-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 芯片引脚检测系统的实现 | 第52-60页 |
| ·系统软件设计 | 第52-53页 |
| ·系统运行界面 | 第53-58页 |
| ·检测结果分析 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
| ·主要工作 | 第60页 |
| ·进一步研究的展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读硕士学位期间公开发表论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
