高介电常数BST微波参数谐振腔法测量

摘要	第1-6页
Abstract	第6-9页
1 绪论	第9-19页
·前言	第9-10页
·常用的测量方法介绍	第10-17页
·测量高介电常数的困难	第17-18页
·本文的研究目的和意义	第18页
·本文的主要研究内容	第18-19页
2 BST 块材谐振腔法测量研究	第19-39页
·谐振腔微扰法原理	第19-21页
·谐振腔微扰法测量高介电常数的局限性	第21-23页
·介电常数实部测量改进	第23-34页
·介电常数虚部测量改进	第34-38页
·本章小结	第38-39页
3 BST 薄膜谐振腔法测量研究	第39-46页
·薄膜介电常数计算公式推导	第39-42页
·薄膜损耗角计算公式推导	第42-43页
·误差分析	第43-45页
·本章小结	第45-46页
4 测试方案与数据处理	第46-66页
·测试仪器与样品	第46-48页
·测试步骤	第48-49页
·数据分析	第49-51页
·共面波导法测量BST 薄膜微波特性	第51-64页
·谐振腔法和共面波导法测量结果比较	第64-65页
·本章小结	第65-66页
5 总结与展望	第66-67页
·总结	第66页
·展望	第66-67页
致谢	第67-68页
参考文献	第68-71页