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AF/PSTM结合SPR技术测量样品介电常数的初步研究

摘要第1-5页
Abstract第5-8页
引言第8-9页
1 AF/PSTM系统简介第9-20页
   ·AFM原理第9-10页
   ·PSTM的物理机制和隧道信息第10-11页
   ·第一代PSTM及其存在的问题第11-12页
   ·AF/PSTM的消假象原理以及图象分解第12-15页
   ·原子力与光子扫描隧道组合显微镜(AF/PSTM)的结构简介第15-18页
     ·主机系统介绍第16-17页
     ·光纤探针的安装第17-18页
   ·AF/PSTM折射率图象为相对值的实例说明第18-20页
2.表面等离子激元共振技术介绍第20-35页
   ·表面等离子激元共振原理介绍第20-30页
     ·表面等离子激元的概念第20页
     ·表面等离子激元的色散曲线第20-24页
     ·关于偏振光的要求第24-25页
     ·电磁波入射单层膜的反射率第25-26页
     ·全内反射第26-27页
     ·衰减全内反射第27页
     ·表面等离子激元共振第27-30页
   ·表面等离子激元共振技术的应用介绍第30-35页
     ·SPR传感器第30-32页
     ·SPR应用于近场扫描光学显微技术第32-33页
     ·薄膜光学和膜厚测量第33页
     ·精密角度测量第33-35页
3.银膜介电常数的测量第35-45页
   ·实验原理第35-37页
   ·实验装置第37-38页
   ·实验过程第38-41页
     ·光路调节第38-39页
     ·角度微调的实现第39-40页
     ·样品的制备即蒸镀银膜第40-41页
     ·光纤尖安装及光信号的接入第41页
   ·实验结果及误差分析第41-45页
     ·实验结果第41-42页
     ·误差分析第42-43页
     ·消除误差的初步考虑第43-45页
4 结论与展望第45-46页
参考文献第46-49页
致谢第49-50页
大连理工大学学位论文版权使用授权书第50页

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