| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·集成电路发展概述 | 第7-8页 |
| ·电子产品实现过程中测试问题的重要性 | 第8-10页 |
| ·数字集成电路的测试 | 第10页 |
| ·论文安排 | 第10-12页 |
| 第二章 数据采集中的误差处理 | 第12-19页 |
| ·误差的概念与表示方法 | 第12-15页 |
| ·测量误差 | 第12页 |
| ·误差的表示方法 | 第12-14页 |
| ·误差的性质与分类 | 第14页 |
| ·测量结果的评价 | 第14-15页 |
| ·测试仪器对信号的影响 | 第15-16页 |
| ·逻辑分析仪中探头对测量的影响 | 第15-16页 |
| ·噪声对测量的影响 | 第16-18页 |
| ·PCB布线理论 | 第16-17页 |
| ·滤波器理论 | 第17-18页 |
| ·小结 | 第18-19页 |
| 第三章 ADC测试参数计算的理论 | 第19-30页 |
| ·参数定义 | 第19-21页 |
| ·ADC的测试技术 | 第21-26页 |
| ·静态测试法和动态测试法 | 第22-24页 |
| ·FFT分析理论 | 第24-26页 |
| ·相干采样 | 第26-27页 |
| ·原始输入波形(基波)的恢复 | 第27-28页 |
| ·ADC的测试原理框图 | 第28页 |
| ·小结 | 第28-30页 |
| 第四章 ADC数据分析和实验参数处理的实现 | 第30-48页 |
| ·测量数据误差处理的实现 | 第30-34页 |
| ·有效数字的处理 | 第30-32页 |
| ·测量数据的表示方法 | 第32-34页 |
| ·码密度直方图分析理论 | 第34-42页 |
| ·选择合适的输入信号 | 第34-36页 |
| ·随机采样 | 第36-37页 |
| ·正弦波概率密度及概率分布 | 第37-38页 |
| ·基于码密度直方图分析的ADC动态传递特性参数推导 | 第38-40页 |
| ·采样数的确定 | 第40-42页 |
| ·码密度直方图算法和FFT算法实现 | 第42-47页 |
| ·程序设计 | 第43-47页 |
| ·小结 | 第47-48页 |
| 第五章 ADC参数定义改进和窗函数的应用 | 第48-52页 |
| ·参数优化 | 第48-50页 |
| ·窗函数 | 第50-52页 |
| 第六章 小结与展望 | 第52-54页 |
| 参考书目 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56页 |