航空高纯锗探测器Monte Carlo刻度方法的初步研究

1 前言	第1-12页
·航空γ能谱测量系统简介及国内外装备情况	第7-8页
·国内外航空γ能谱测量技术研究现状	第8-10页
·本文工作内容	第10-12页
2 刻度原理和方法	第12-18页
·Beck法刻度原理	第12-13页
·航测谱仪的Beck法刻度原理	第13-15页
·刻度方法	第15-17页
·Monte Carlo计算方法和MCNP程序	第17-18页
3 响应函数与光峰效率计算、能谱模拟	第18-36页
·探测器的响应函数	第18-19页
·研究对象和研究方法	第19-23页
·探测器光峰效率	第23-28页
·探测器能谱模拟	第28-35页
·探测器角响应	第35-36页
4 辐射场模拟	第36-55页
·注量率谱的Monte Carlo计算	第37-42页
·边界与物质组成	第37-38页
·源和记录卡	第38-39页
·减小方差技巧	第39-40页
·计算结果和统计波动表	第40-42页
·实验	第42-43页
·实验数据处理	第43-52页
·剥谱原理	第43-44页
·扣除本底谱	第44-46页
·剥除探测器中的散射谱	第46-50页
·生成光子通量谱	第50-52页
·结果和不确定度分析	第52-55页
5 结论和讨论	第55-57页
6 致谢	第57-58页
7 参考文献	第58-60页
附表1	第60-62页
附表2	第62-63页
附表3	第63-65页