纳米La0.8Sr0.2FeO3和ZnO材料表面电子结构研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-20页 |
| ·纳米材料概述 | 第8-9页 |
| ·纳米材料的物理化学特性 | 第9-12页 |
| ·表面效应 | 第9-10页 |
| ·量子尺寸效应 | 第10-11页 |
| ·小尺寸效应 | 第11页 |
| ·宏观量子隧道效应 | 第11-12页 |
| ·半导体纳米材料的几点特性 | 第12-14页 |
| ·半导体纳米材料的量子尺寸效应 | 第12-13页 |
| ·介电限域效应 | 第13页 |
| ·半导体超微粒的光电化学特性 | 第13-14页 |
| ·纳米钙钛矿型 ABO_3复合氧化物的结构简介 | 第14-16页 |
| ·氧化锌简介 | 第16-18页 |
| ·本论文选题意义及研究内容 | 第18-20页 |
| 第2章 实验原理与装置 | 第20-51页 |
| ·光声光谱及其物理过程 | 第22-34页 |
| ·光声理论 | 第22-30页 |
| ·l.1 圆柱形光声池中光声信号的推导 | 第23-26页 |
| ·声的激发 | 第26-29页 |
| ·光声信号的特殊解 | 第29-30页 |
| ·光声光谱测试系统组成 | 第30-34页 |
| ·表面光电压的原理 | 第34-47页 |
| ·表面光伏效应的产生机制 | 第34-39页 |
| ·场效应原理 | 第39-41页 |
| ·表面光电压的测量原理 | 第41-47页 |
| ·测量原理 | 第41-45页 |
| ·测量技术 | 第45页 |
| ·表面光电压谱的测试方法 | 第45-46页 |
| ·表面光电压谱的应用研究现状 | 第46-47页 |
| ·CASTEP 的理论基础 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第3章 纳米晶铁氧体光声/光电压谱实验研究 | 第51-71页 |
| ·样品的制备和结构表征 | 第51-54页 |
| ·光声光谱和表面光电压谱的测定 | 第54-55页 |
| ·计算机模拟 | 第55页 |
| ·结果与讨论 | 第55-70页 |
| ·光声光谱 | 第55-58页 |
| ·表面光电压谱和场诱导表面光电压谱 | 第58-62页 |
| ·光声信号与频率的关系 | 第62-64页 |
| ·计算机模拟结果讨论 | 第64-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第4章 纳米氧化锌光声/光电压谱实验研究 | 第71-80页 |
| ·纳米氧化锌的制备和结构表征 | 第71-73页 |
| ·nano-ZnO 的光声光谱和表面光电压谱测定 | 第73-77页 |
| ·ZnO 能带结构及态密度分布的计算机模拟 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 结论 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务与主要成果 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 作者简介 | 第87页 |
