| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-18页 |
| 第一章 文献综述 | 第18-34页 |
| ·甲烷干式重整反应的研究背景 | 第18-21页 |
| ·甲烷资源 | 第18页 |
| ·甲烷的化工利用途径 | 第18-19页 |
| ·甲烷催化转化制合成气的主要途径 | 第19-21页 |
| ·甲烷水蒸气催化重整制合成气 | 第19-20页 |
| ·甲烷部分氧化制合成气 | 第20-21页 |
| ·甲烷自热重整反应 | 第21页 |
| ·甲烷干式重整催化制合成气 | 第21页 |
| ·甲烷干式重整催化剂的研究 | 第21-27页 |
| ·催化剂活性组分研究 | 第21-24页 |
| ·负载型金属催化剂 | 第22-23页 |
| ·其他类型催化剂 | 第23-24页 |
| ·催化剂载体的选择和作用 | 第24-25页 |
| ·助剂对催化性能的影响 | 第25-27页 |
| ·甲烷干式重整反应机理的研究 | 第27-29页 |
| ·甲烷干式重整反应失活机理的研究 | 第29-31页 |
| ·催化剂失活机理 | 第29-30页 |
| ·催化剂积碳现象的研究 | 第30-31页 |
| ·甲烷干式重整反应制备方法的研究 | 第31-32页 |
| ·本课题研究的主要目标 | 第32-34页 |
| 第二章 实验部分 | 第34-40页 |
| ·实验原料及设备仪器 | 第34-35页 |
| ·实验用催化剂制备方法 | 第35页 |
| ·催化剂性质表征 | 第35-37页 |
| ·催化剂物相组成测定（XRD） | 第35-36页 |
| ·催化剂还原性能表征（H2-TPR） | 第36页 |
| ·傅里叶红外光谱分析（FT-IR） | 第36页 |
| ·热重-差示扫描量热法（TG-DSC） | 第36页 |
| ·H_2化学吸附 | 第36-37页 |
| ·透射电子显微镜（TEM） | 第37页 |
| ·催化剂反应活性评价 | 第37-40页 |
| 第三章 甲烷干式重整负载型Ni/SiO_2催化剂研究 | 第40-54页 |
| ·引言 | 第40-41页 |
| ·催化剂制备 | 第41页 |
| ·甲烷干式重整负载型镍基催化剂上催化性能评价 | 第41-52页 |
| ·钝化后的XRD谱图 | 第41-44页 |
| ·催化剂FT-IR谱图 | 第44-45页 |
| ·不同催化剂TG-DSC图 | 第45-46页 |
| ·催化剂H_2-TPR还原图 | 第46-48页 |
| ·甲烷干式重整反应活性测试 | 第48-50页 |
| ·反应后催化剂的TG-DSC图 | 第50页 |
| ·催化剂反应后的XRD和TEM 图 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 助剂对负载型Ni/SiO_2催化剂影响 | 第54-64页 |
| ·引言 | 第54-55页 |
| ·催化剂制备 | 第55页 |
| ·甲烷干式重整反应性能评价 | 第55-61页 |
| ·MgO、CeO_2助剂对Ni/SiO_2催化剂催化性能的影响 | 第55-56页 |
| ·贵金属助剂对Ni/SiO_2催化剂催化性能的影响 | 第56-59页 |
| ·CeO_2助剂含量对Ni-CeO_2/SiO_2催化剂催化性能的影响 | 第59-60页 |
| ·还原温度对Ni-10%CeO_2/SiO_2催化剂的影响 | 第60-61页 |
| ·空速对Ni-10%CeO_2/SiO_2催化剂催化性能的影响 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-64页 |
| 第五章 甲烷干式重整Ni_(0.2)Mg_(0.8）O催化剂研究 | 第64-68页 |
| ·引言 | 第64页 |
| ·催化剂制备 | 第64-65页 |
| ·乙二醇对Ni_(0.2)Mg_(0.8)O催化剂的影响 | 第65-66页 |
| ·焙烧温度对Ni_(0.2)Mg_(0.8)O催化剂的影响 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第77-78页 |
| 作者与导师简介 | 第78-79页 |
| 附件 | 第79-80页 |
