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硅基扩镓溅射Ga2O3反应自组装和热壁化学气相沉积制备GaN薄膜的研究

摘要第1-7页
Abstract第7-11页
第一章 绪论第11-26页
 第一节 GaN的基本性质及应用第11-16页
 第二节 GaN薄膜的研究进展第16-24页
 第三节 研究课题的选取第24-26页
第二章 实验设备和测试方法第26-33页
 第一节 实验设备第26-30页
 第二节 测试方法简介第30-33页
第三章 热壁化学气相沉积Si基GaN薄膜第33-45页
 第一节 高温氨化Ga_2O_3形成GaN粉末第33-36页
 第二节 Si基GaN薄膜的制备第36-37页
 第三节 GaN微晶体特性分析第37-40页
 第四节 GaN薄膜的特性分析第40-45页
第四章 硅基扩镓溅射Ga_2O_3反应自组装GaN薄膜第45-62页
 第一节 扩镓Si基和GaN薄膜的制备第45-47页
 第二节 预沉积和再分布Si基对GaN薄膜的影响第47-51页
 第三节 扩镓时间对GaN薄膜的影响第51-56页
 第四节 氮化温度和氮化时间对GaN薄膜的影响第56-62页
第五章 一维纳米结构的研究第62-72页
 第一节 热壁化学气相沉积Si基Si_3N_4纳米管第62-66页
 第二节 一维GaN纳米结构的研究第66-72页
第六章 结论第72-74页
参考文献第74-83页
攻读硕士学位期间发表的文章第83-85页
致谢第85页

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