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计算机集成制造系统(CIMS)中设备自动化(EAP)设计与开发

第一章 绪论第1-15页
   ·CIMS的发展状况及趋势第7-11页
     ·CIMS的概述第7-8页
     ·国内外CIMS发展概况第8-10页
     ·CIMS技术的发展趋势第10-11页
   ·CIMS技术发展的三个阶段第11-12页
   ·标准CIMS系统的组成第12-13页
   ·课题来源第13-15页
第二章 半导体行业CIMS系统介绍第15-21页
   ·半导体制造系统的特性第15-16页
   ·半导体行业术语第16-17页
   ·半导体制造流程第17-19页
   ·本文中CIMS系统介绍第19-20页
   ·本文所研究的内容第20-21页
第三章 半导体自动化SECS协议介绍第21-31页
   ·SECS协议框架第21-22页
   ·SECS协议分层介绍第22-28页
     ·SECS-Ⅰ的定义第22-24页
     ·SECS-Ⅱ的规范内容第24-28页
   ·SECS-Ⅱ结构语言第28-30页
   ·SECS主机与机台的对话模式第30页
   ·本章小结第30-31页
第四章 EAP系统总体方案设计第31-39页
   ·EAP系统概述第31-32页
     ·EAP在CIMS中的地位第31页
     ·EAP在CIMS中的作用第31-32页
   ·EAP系统需求分析第32-35页
     ·需求分析是EAP初步设计的重要环节第32页
     ·调研材料的总结和分析第32-35页
   ·EAP系统总体设计第35-39页
     ·EAP系统的总体设计思路第35页
     ·EAP系统实现的功能第35-36页
     ·EAP系统的系统结构第36-39页
第五章 系统详细设计与实现第39-55页
   ·EC模块的详细设计与实现第39-45页
     ·TASK任务模块的实现第39-44页
     ·生产机台与测量机台通用TASK的软件实现第44-45页
   ·ED模块的软件设计与实现第45-52页
     ·生产机台控制流程图第45-51页
     ·测量机台控制流程图第51-52页
   ·TASK FLOW的设计第52-55页
第六章 系统调试与上线第55-59页
   ·系统设计与实现的结果第55-56页
   ·系统模拟调试第56-57页
   ·系统现场调试第57-58页
     ·现场测试的必要性第57页
     ·现场测试环境第57页
     ·现场测试的目的第57-58页
   ·系统上线与维护第58-59页
结束语第59-61页
致谢第61-63页
参考文献第63-65页
在读期间的研究成果第65页

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