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光盘检测技术研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-6页
目录第6-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·引言第7页
   ·表面粗糙度测量的研究现状和发展趋势第7-10页
   ·课题研究的目的、意义和内容第10-11页
第二章 表面粗糙度测量原理综述第11-19页
   ·表面粗糙度的定义及相关参数论述第11-14页
   ·表面粗糙度测量方法分析第14-18页
   ·现有测量方法存在的问题第18-19页
第三章 测量光盘表面粗糙度的光学原理研究第19-29页
   ·测量表面粗糙度的光散射理论第19-21页
   ·散射光强度与表面粗糙度的定性关系第21-22页
   ·光散射强度和粗糙度测量的定量关系第22-25页
   ·光散射光学特征值的建立第25-29页
第四章 光盘表面粗糙度在线测量系统的设计第29-58页
   ·仪器总体结构设计第29-30页
   ·光学系统的设计第30-40页
   ·光电探测器的选择及应用第40-46页
   ·分光镜、透镜及夹具结构的设计第46-49页
   ·PSD跟踪定位技术第49-58页
第五章 系统误差分析第58-63页
   ·降低光源引起的误差第58-59页
   ·PSD器件的误差分析第59-62页
   ·电路系统误差第62页
   ·防止被测表面污染的影响第62页
   ·降低制造与装配的误差第62-63页
第六章 总结和展望第63-65页
   ·总结第63-64页
   ·展望第64-65页
致谢第65-66页
参考文献第66-67页

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