光盘检测技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·引言 | 第7页 |
| ·表面粗糙度测量的研究现状和发展趋势 | 第7-10页 |
| ·课题研究的目的、意义和内容 | 第10-11页 |
| 第二章 表面粗糙度测量原理综述 | 第11-19页 |
| ·表面粗糙度的定义及相关参数论述 | 第11-14页 |
| ·表面粗糙度测量方法分析 | 第14-18页 |
| ·现有测量方法存在的问题 | 第18-19页 |
| 第三章 测量光盘表面粗糙度的光学原理研究 | 第19-29页 |
| ·测量表面粗糙度的光散射理论 | 第19-21页 |
| ·散射光强度与表面粗糙度的定性关系 | 第21-22页 |
| ·光散射强度和粗糙度测量的定量关系 | 第22-25页 |
| ·光散射光学特征值的建立 | 第25-29页 |
| 第四章 光盘表面粗糙度在线测量系统的设计 | 第29-58页 |
| ·仪器总体结构设计 | 第29-30页 |
| ·光学系统的设计 | 第30-40页 |
| ·光电探测器的选择及应用 | 第40-46页 |
| ·分光镜、透镜及夹具结构的设计 | 第46-49页 |
| ·PSD跟踪定位技术 | 第49-58页 |
| 第五章 系统误差分析 | 第58-63页 |
| ·降低光源引起的误差 | 第58-59页 |
| ·PSD器件的误差分析 | 第59-62页 |
| ·电路系统误差 | 第62页 |
| ·防止被测表面污染的影响 | 第62页 |
| ·降低制造与装配的误差 | 第62-63页 |
| 第六章 总结和展望 | 第63-65页 |
| ·总结 | 第63-64页 |
| ·展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |