| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·研究背景与意义 | 第9-10页 |
| ·RFID技术发展现状及发展方向 | 第10-11页 |
| ·RFID技术面临的问题 | 第11-12页 |
| ·本文的主要研究方向和研究内容 | 第12-15页 |
| 第2章 射频识别系统工作原理 | 第15-21页 |
| ·RFID系统的组成结构 | 第15页 |
| ·物理学原理 | 第15-16页 |
| ·数据传输 | 第16-18页 |
| ·数据传输原理 | 第16-17页 |
| ·数据传输方式 | 第17页 |
| ·数据完整性与安全性 | 第17-18页 |
| ·多标签同时识别与系统防冲突 | 第18-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 超高频RFID系统编、解码技术 | 第21-32页 |
| ·ISO/IEC18000-6 中编解码标准 | 第21-22页 |
| ·FM0 返向链路 | 第22-25页 |
| ·FM0 码原理与编解码规则 | 第22-23页 |
| ·FM0 码的FPGA实现与仿真 | 第23-25页 |
| ·A类通信前向链路脉冲间隔编码(PIE) | 第25-29页 |
| ·PIE码原理与编解码规则 | 第25-27页 |
| ·PIE码的FPGA实现与仿真 | 第27-29页 |
| ·B类通信前向链路曼切斯特编码 | 第29-30页 |
| ·曼切斯特码原理与编解码规则 | 第29页 |
| ·曼切斯特码的FPGA实现与仿真 | 第29-30页 |
| ·其他常用的数据编码 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 超高频RFID系统数据校验 | 第32-47页 |
| ·差错控制编码原理 | 第32-35页 |
| ·常用的差错控制方法 | 第32-34页 |
| ·差错控制编码基本原理 | 第34-35页 |
| ·超高频RFID系统的数据保护与校验 | 第35-36页 |
| ·常用的数据检错与纠错算法 | 第36-39页 |
| ·奇偶校验 | 第36-37页 |
| ·纵向冗余校验(LRC) | 第37-38页 |
| ·循环冗余校验(CRC) | 第38-39页 |
| ·超高频RFID系统中CRC电路设计 | 第39-46页 |
| ·线性反馈移位寄存器实现循环冗余校验 | 第39-40页 |
| ·改进后的线性反馈移位寄存器电路 | 第40-42页 |
| ·并行电路实现循环冗余校验 | 第42-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第5章 抗干扰编译码电路设计 | 第47-59页 |
| ·超高频RFID系统应用中的干扰问题 | 第47-48页 |
| ·干扰与多径 | 第47页 |
| ·我国860MHz～960MHz频段的频率使用状况 | 第47-48页 |
| ·卷积码的基本概念 | 第48-56页 |
| ·卷积码编码器 | 第48-50页 |
| ·卷积码的图解表示 | 第50-51页 |
| ·卷积码的解析表示 | 第51-53页 |
| ·Viterbi译码 | 第53-56页 |
| ·抗干扰数字基带电路设计 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附录A(攻读学位期间所发表的学术论文目录) | 第66页 |