调制域分析仪关键技术—瞬时测频部件研制
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-13页 |
第一章 引言 | 第13-16页 |
·调制域分析的概念 | 第13-14页 |
·调制域分析仪的应用领域及其重要性 | 第14页 |
·国内外技术动态 | 第14-15页 |
·本文的主要工作和结构安排 | 第15-16页 |
第二章 瞬时测频的测量原理和关键技术 | 第16-25页 |
·瞬时测频组件的测量功能 | 第16页 |
·瞬时测频组件的测量原理 | 第16-20页 |
·频率--时间测量 | 第16-18页 |
·时间间隔测量 | 第18-19页 |
·脉冲包络信号参数的测量 | 第19-20页 |
·瞬时测频组件的关键技术 | 第20-25页 |
·“乒乓”计数器技术 | 第21-22页 |
·同步计数器技术 | 第22-23页 |
·正反时基计数技术 | 第23-24页 |
·其他技术 | 第24-25页 |
第三章 瞬时测频组件的系统方案 | 第25-29页 |
·主要功能和技术指标 | 第25页 |
·系统指标论证 | 第25-26页 |
·时间测量分辨率 | 第25-26页 |
·频率测量分辨率 | 第26页 |
·系统连续测量时间 | 第26页 |
·硬件方案 | 第26-29页 |
·系统硬件原理图 | 第26-28页 |
·瞬时测频组件硬件结构框图 | 第28-29页 |
第四章 整形模块 | 第29-36页 |
·整形模块在瞬时测频组件中的作用 | 第29页 |
·整形模块的指标要求 | 第29页 |
·传统整形方案 | 第29-30页 |
·瞬时测频组件采用的整形方案 | 第30-36页 |
·被测信号整形 | 第30-35页 |
·时基整形 | 第35-36页 |
第五章 ECL 板 | 第36-45页 |
·数字电路中的几种逻辑电平 | 第36-38页 |
·LVDS 电平 | 第36-37页 |
·ECL 电平 | 第37-38页 |
·ECL 板的实现 | 第38-42页 |
·ECL 板的硬件构成 | 第38-40页 |
·计数器的实现 | 第40-42页 |
·ECL 板电路设计 | 第42-45页 |
第六章 包络参数测量 | 第45-59页 |
·传统的包络参数测量方案 | 第46-47页 |
·采用峰值保持法测量包络参数 | 第47-50页 |
·峰值保持法测量硬件原理框图 | 第47-48页 |
·峰值保持法测量中的时序 | 第48-50页 |
·包络信号与开关的时序 | 第48-50页 |
·包络信号与比较器的时序 | 第50页 |
·包络检波器 | 第50-52页 |
·二极管峰值包络检波器 | 第51页 |
·二极管包络检波的失真 | 第51-52页 |
·包络检波器的设计 | 第52页 |
·时序控制部件 | 第52-55页 |
·MAX7000 介绍 | 第52-53页 |
·EPM7032 内部结构 | 第53-54页 |
·CPLD 的开发流程 | 第54-55页 |
·CPLD 的仿真时序 | 第55页 |
·比较器AD96685 | 第55-56页 |
·误差分析 | 第56-59页 |
·系统误差分析 | 第56-57页 |
·其他误差 | 第57-59页 |
第七章 瞬时测频组件部分电路调试及测量结果 | 第59-70页 |
·整形模块的调试 | 第59-63页 |
·整形调试方法 | 第59页 |
·整形测试数据 | 第59-60页 |
·整形调试部分结果图 | 第60-63页 |
·整形调试中遇到的问题及解决 | 第63页 |
·ECL 板的调试 | 第63-68页 |
·调试方案 | 第63-64页 |
·部分测试结果 | 第64-67页 |
·调试结果分析 | 第67-68页 |
·包络参数测量模块的调试 | 第68-70页 |
·测试方案 | 第68页 |
·测试结果 | 第68-69页 |
·调试结果分析 | 第69页 |
·调试中遇到的困难 | 第69-70页 |
第八章 总结 | 第70-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-73页 |
攻硕期间取得的成果 | 第73-74页 |
附录一 信号整形 PCB 板图 | 第74页 |
附录二 信号整形实物图 | 第74-75页 |
附录三 时基整形 PCB 板图 | 第75页 |
附录四 时基整形实物图 | 第75-76页 |
附录五 ECL 模块 PCB 板图 | 第76-77页 |
附录六 包络参数测量电路实物图 | 第77-78页 |