基于NI模块化技术的RFID协议一致性自动测试系统设计与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| ·课题背景 | 第8-10页 |
| ·RFID发展现状 | 第10-12页 |
| ·RFID技术的发展及现状 | 第10-12页 |
| ·RFID的测试需求及现状 | 第12页 |
| ·研究意义及内容 | 第12-13页 |
| ·本文的主要架构 | 第13-14页 |
| 第二章 RFID基本原理 | 第14-22页 |
| ·RFID系统的基本组成 | 第14-17页 |
| ·标签 | 第14-16页 |
| ·读写器 | 第16-17页 |
| ·中央信息系统(数据库) | 第17页 |
| ·RFID系统基本工作原理 | 第17-18页 |
| ·RFID系统特征 | 第18-19页 |
| ·RFID的关键问题 | 第19-21页 |
| ·成本问题 | 第19页 |
| ·准确度与作业环境影响 | 第19-20页 |
| ·数据结构与系统集成 | 第20页 |
| ·标准化问题 | 第20-21页 |
| ·RFID系统的应用领域 | 第21-22页 |
| 第三章 本测试系统所依据标准概述 | 第22-44页 |
| ·RFID标准总体介绍 | 第22-26页 |
| ·不同频段的标准介绍 | 第23-24页 |
| ·RFID的应用行业标准 | 第24-26页 |
| ·UHF RFID标准介绍 | 第26-32页 |
| ·中国UHF频段射频识别技术应用规定 | 第26-27页 |
| ·EPC C1G2协议规范 | 第27-32页 |
| ·测试系统设计参数 | 第32-33页 |
| ·测试项目及定义 | 第33-44页 |
| ·标签解调能力测试 | 第33-34页 |
| ·标签链路频率测试 | 第34-35页 |
| ·标签链路频率频移测试 | 第35页 |
| ·标签反射信号占空比测试 | 第35-36页 |
| ·标签反射信号前导码测试 | 第36-37页 |
| ·标签连接定时参数T1、T2时间测试 | 第37-38页 |
| ·标签防碰撞测试 | 第38-39页 |
| ·标签充电时间测试 | 第39页 |
| ·标签存储器内容测试 | 第39-40页 |
| ·标签状态转移测试 | 第40-44页 |
| 第四章 测试系统硬件设计 | 第44-50页 |
| ·硬件平台 | 第45-46页 |
| ·硬件总体设计 | 第46-47页 |
| ·硬件模块介绍 | 第47-49页 |
| ·NI-PXI-5610上变频器 | 第47-48页 |
| ·NI-PXI-5600下变频器 | 第48页 |
| ·NI-PCI-5640R IF RIO | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 测试系统软件设计 | 第50-60页 |
| ·软件平台 | 第50-52页 |
| ·软件总体设计 | 第52页 |
| ·测试系统软件实现 | 第52-55页 |
| ·测试程序前面板 | 第53-55页 |
| ·测试系统程序结构 | 第55页 |
| ·自动测试环境TESTSTAND | 第55-60页 |
| ·自动测试流程 | 第57-58页 |
| ·测试系统TestStand测试面板 | 第58页 |
| ·测试报告生成 | 第58-60页 |
| 第六章 测试平台性能分析 | 第60-64页 |
| ·实验方法 | 第60页 |
| ·实验数据分析 | 第60-64页 |
| ·频率测试 | 第61-62页 |
| ·输出功率测量 | 第62页 |
| ·调幅深度测量 | 第62-64页 |
| 第七章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-70页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第70页 |
