| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-20页 |
| ·课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状分析 | 第10-18页 |
| ·硬盘技术的发展现状分析 | 第10-12页 |
| ·固态存储介质的发展现状分析 | 第12-15页 |
| ·高速大容量存储器的国内外发展现状及分析 | 第15-17页 |
| ·坏块及数据管理技术的发展现状分析 | 第17-18页 |
| ·主要研究内容及文章结构 | 第18-20页 |
| 第2章 Flash 阵列系统概述 | 第20-36页 |
| ·Flash 芯片的选型 | 第20-26页 |
| ·Flash 芯片的分类 | 第20-22页 |
| ·NOR Flash 与NAND Flash 性能的比较 | 第22-26页 |
| ·NAND Flash 的介绍. | 第26-33页 |
| ·NAND Flash 的分类 | 第26-29页 |
| ·NAND Flash 的结构 | 第29-33页 |
| ·基于Flash 阵列的大容量存储器总体架构 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 NAND Flash 阵列控制器的研究及设计 | 第36-63页 |
| ·FPGA 总体方案设计. | 第36-42页 |
| ·并行总线技术 | 第36-37页 |
| ·流水线技术 | 第37-40页 |
| ·Flash 阵列结构总体方案 | 第40-42页 |
| ·Flash 阵列各部分功能模块的研究及设计 | 第42-52页 |
| ·数据缓冲模块 | 第42-44页 |
| ·指令译码模块 | 第44-45页 |
| ·状态机模块 | 第45-51页 |
| ·多路选择模块 | 第51-52页 |
| ·ECC 校验模块的研究及实现 | 第52-61页 |
| ·ECC 校验码的生成. | 第52-54页 |
| ·系统差错. | 第54页 |
| ·错误位置的确定 | 第54-55页 |
| ·ECC 数据的存储 | 第55-56页 |
| ·ECC 校验模块的设计 | 第56-61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第4章 Flash 坏块管理及性能提升算法研究及优化. | 第63-83页 |
| ·NAND Flash 坏块管理概述. | 第63-69页 |
| ·坏块的分类 | 第63-64页 |
| ·Flash 阵列坏块管理的整体结构 | 第64-66页 |
| ·坏块管理的实现 | 第66-69页 |
| ·均衡损耗算法的研究 | 第69-77页 |
| ·动态Wear-Leveling 算法 | 第73-75页 |
| ·静态Wear-Leveling 算法 | 第75-77页 |
| ·垃圾回收算法的研究 | 第77-79页 |
| ·综合算法设计 | 第79-82页 |
| ·本章小结 | 第82-83页 |
| 第5章 Flash 阵列系统仿真实验与性能分析 | 第83-96页 |
| ·NAND Flash 阵列控制器仿真实验. | 第83-89页 |
| ·NAND Flash 控制核仿真分析 | 第83-87页 |
| ·Flash 阵列系统仿真分析 | 第87-89页 |
| ·NAND Flash 优化算法性能分析 | 第89-94页 |
| ·JFF52 文件系统性能分析 | 第89-90页 |
| ·YAFFS 文件系统性能分析 | 第90页 |
| ·综合算法模拟计算对比实验 | 第90-94页 |
| ·本章小结 | 第94-96页 |
| 结论 | 第96-98页 |
| 参考文献 | 第98-103页 |
| 致谢 | 第103页 |
