摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第1章 绪论 | 第10-26页 |
·本课题研究的目的和意义 | 第10页 |
·超细粉体简介 | 第10-12页 |
·超细Si0_2 粉体的特性及应用 | 第11页 |
·超细粉体表面改性 | 第11-12页 |
·超细Si0_2 粉体表面改性研究现状 | 第12-17页 |
·Si0_2 的表面化学 | 第12页 |
·超细Si0_2 粉体表面改性方法 | 第12-13页 |
·超细Si0_2 粉体的改性机理 | 第13-14页 |
·超细Si0_2 粉体改性效果表征 | 第14-16页 |
·影响超细Si0_2 粉体改性效果的因素 | 第16-17页 |
·超细Si0_2 粉体分散体系的流变性能研究现状 | 第17-26页 |
·流体流变特性概述 | 第17-20页 |
·超细Si0_2 粉体分散体系流变性能研究进展 | 第20-26页 |
第2章 实验内容 | 第26-33页 |
·实验仪器及试剂 | 第26-28页 |
·实验仪器 | 第26页 |
·实验试剂 | 第26-28页 |
·超细Si0_2 粉体的制备及表面改性 | 第28-29页 |
·超细Si0_2 粉体表面改性效果表征 | 第29-30页 |
·扫描电子显微镜分析 | 第29页 |
·粒度分析 | 第29页 |
·接触角测量 | 第29-30页 |
·热分析(DSC) | 第30页 |
·吸附实验 | 第30页 |
·超细Si0_2 /PEG(200)分散体系流变性能测试 | 第30-33页 |
·超细Si0_2 /PEG(200)分散体系的制备 | 第30页 |
·Si0_2 /PEG(200)分散体系流变性能测试 | 第30-33页 |
第3章 超细Si0_2 的制备改性及表征 | 第33-50页 |
·超细Si0_2 的制备 | 第33-36页 |
·制备原理 | 第33-34页 |
·制备工艺控制 | 第34-36页 |
·制备工艺优点 | 第36页 |
·超细Si0_2 的表面改性 | 第36-38页 |
·改性原理 | 第36-37页 |
·改性工艺控制 | 第37页 |
·改性工艺优点 | 第37-38页 |
·改性效果表征 | 第38-48页 |
·激光粒度分析 | 第38-40页 |
·扫描电镜分析(SEM) | 第40-42页 |
·接触角测量 | 第42-44页 |
·DSC分析 | 第44-46页 |
·吸附实验 | 第46-48页 |
·本章小结 | 第48-50页 |
第4章 超细Si0_2/PEG(200)流变性能分析 | 第50-72页 |
·超细Si0_2 /PEG(200)分散体系流变机理探讨 | 第50-51页 |
·超细Si0_2 /PEG(200)分散体系静态流变性能分析 | 第51-61页 |
·超细Si0_2 /PEG(200)分散体系粘度 | 第51-60页 |
·超细Si0_2 /PEG(200)分散体系临界点位置 | 第60-61页 |
·动态流变性能分析 | 第61-70页 |
·储能模量 | 第62-65页 |
·耗能模量 | 第65-68页 |
·复合模量 | 第68-70页 |
·本章小结 | 第70-72页 |
结论 | 第72-74页 |
参考文献 | 第74-79页 |
致谢 | 第79页 |