边界扫描测试与故障诊断系统开发
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题的来源与目的意义 | 第10-11页 |
| ·国内外发展现状和趋势 | 第11-15页 |
| ·边界扫描技术发展现状 | 第11-13页 |
| ·故障诊断技术的发展和趋势 | 第13页 |
| ·虚拟仪器的发展现状和趋势 | 第13-14页 |
| ·可测性设计的发展历程 | 第14-15页 |
| ·本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 系统总体方案 | 第16-30页 |
| ·总体方案 | 第16-19页 |
| ·设计指导思想. | 第16-17页 |
| ·系统总体结构. | 第17-18页 |
| ·开发工作的实施要点 | 第18-19页 |
| ·测试理论的研究 | 第19-24页 |
| ·可测性理论的要点分析 | 第19-20页 |
| ·DES理论的简要介绍 | 第20-21页 |
| ·数据压缩理论的讨论 | 第21-24页 |
| ·相关标准与协议 | 第24-29页 |
| ·IEEE1149.1 协议要点的讨论 | 第24-28页 |
| ·SVF标准的讨论 | 第28-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 数字电路功能测试系统的研究开发 | 第30-43页 |
| ·数字电路故障诊断的可测性分析 | 第30-36页 |
| ·基于DES算法的故障模型结构 | 第30-32页 |
| ·建模方法与系统仿真软件的开发 | 第32-36页 |
| ·数字电路功能测试与故障诊断系统的开发 | 第36-39页 |
| ·数字电路功能测试原理 | 第36-37页 |
| ·基于标准被测电路527 的工作示例 | 第37-38页 |
| ·信号标识与实际引脚的设置方法 | 第38-39页 |
| ·基于VB文件的功能测试机制 | 第39-42页 |
| ·问题的提出 | 第39-40页 |
| ·测试模型源文件的建立与分析 | 第40-41页 |
| ·依据测试模型生成测试向量的算法 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 边界扫描测试系统的核心机制 | 第43-59页 |
| ·边界扫描BSC链路数据的建立和运行 | 第43-47页 |
| ·核心软件的机制建立 | 第43-45页 |
| ·主要数据结构 | 第45-47页 |
| ·边界扫描的簇测试系统开发 | 第47-49页 |
| ·簇测试的基本原理 | 第47-48页 |
| ·簇测试的软件操作界面 | 第48-49页 |
| ·边界扫描的互连测试系统开发 | 第49-52页 |
| ·基本互连测试方法 | 第49-50页 |
| ·网表转换软件 | 第50-51页 |
| ·互联测试操作界面与工作过程 | 第51-52页 |
| ·边界扫描测试基础条件的建立 | 第52-58页 |
| ·支持IEEE1149.1 边扫控制器的若干方式 | 第52-53页 |
| ·测试系统控制器硬件开发 | 第53-55页 |
| ·SVF标准边扫控制器接口函数的开发 | 第55-57页 |
| ·完备性测试过程 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 边界扫描测试系统的应用示例 | 第59-67页 |
| ·被测对象与测试系统 | 第59-60页 |
| ·被测对象的硬件电路 | 第59-60页 |
| ·测试系统整体实物连接 | 第60页 |
| ·以FPGA为核心器件的典型电路测试 | 第60-62页 |
| ·完备性测试过程 | 第60-61页 |
| ·内部功能测试过程 | 第61-62页 |
| ·内含多个边扫元件的典型电路测试 | 第62-66页 |
| ·完备性测试过程 | 第63页 |
| ·外部连线测试过程 | 第63-65页 |
| ·簇测试方法 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读学位期间发表学术论文 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
