| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 缩略词 | 第13-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-23页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第14-16页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第14-15页 |
| 1.1.2 课题研究意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-21页 |
| 1.2.1 仪器研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.2 光谱分析软件发展现状 | 第19-21页 |
| 1.3 本文主要研究内容和结构安排 | 第21-23页 |
| 第二章 系统总体分析与相关技术原理 | 第23-32页 |
| 2.1 EDXRF光谱仪硬件系统 | 第23-27页 |
| 2.1.1 X射线管 | 第24-25页 |
| 2.1.2 探测器 | 第25-26页 |
| 2.1.3 滤光片与准直器 | 第26-27页 |
| 2.2 相关技术原理 | 第27-31页 |
| 2.2.1 X射线与原子的相互作用 | 第27页 |
| 2.2.2 定性分析的基础理论 | 第27-28页 |
| 2.2.3 基体效应 | 第28页 |
| 2.2.4 荧光理论强度计算 | 第28-30页 |
| 2.2.5 定量分析经典算法 | 第30-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 数据分析与处理 | 第32-48页 |
| 3.1 滤波 | 第33-37页 |
| 3.1.1 重心法 | 第33-34页 |
| 3.1.2 基于软、硬阈值加权的最优小波树滤波方法 | 第34-37页 |
| 3.2 背景扣除算法 | 第37-38页 |
| 3.3 谱峰定位算法 | 第38-45页 |
| 3.3.1 导数寻峰法 | 第38-40页 |
| 3.3.2 阈值参数寻峰算法 | 第40-42页 |
| 3.3.3 重叠峰校正寻峰算法 | 第42-45页 |
| 3.4 系统刻度 | 第45页 |
| 3.5 荧光强度提取 | 第45-46页 |
| 3.5.1 高斯峰拟合法 | 第46页 |
| 3.5.2 梯形面积法 | 第46页 |
| 3.6 定量分析 | 第46-47页 |
| 3.7 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 光谱仪上位机软件设计 | 第48-58页 |
| 4.1 上位机软件需求分析 | 第48-49页 |
| 4.2 编程平台和语言的选择 | 第49-50页 |
| 4.2.1 .NET Framework平台 | 第49页 |
| 4.2.2 编程语言 | 第49-50页 |
| 4.2.3 混编数据类型转换 | 第50页 |
| 4.3 自定义控件设计 | 第50-52页 |
| 4.4 数据存储 | 第52-54页 |
| 4.5 程序优化方法 | 第54-57页 |
| 4.5.1 变量级别优化 | 第54页 |
| 4.5.2 函数级别优化 | 第54-55页 |
| 4.5.3 多线程技术 | 第55-56页 |
| 4.5.4 线程的同步 | 第56-57页 |
| 4.6 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 样机操作流程与性能测试 | 第58-78页 |
| 5.1 实验环境与操作流程 | 第58-60页 |
| 5.2 上位机界面设计 | 第60-62页 |
| 5.3 实验结果 | 第62-77页 |
| 5.3.1 预处理结果 | 第63-70页 |
| 5.3.2 谱峰定位结果 | 第70-71页 |
| 5.3.3 镉元素浓度确定 | 第71-76页 |
| 5.3.4 镉元素的检出限和定量限 | 第76-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 6.1 课题总结 | 第78-79页 |
| 6.2 展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第86-87页 |
| 附录1 测试样2的定量结果 | 第87页 |