高精度硅陀螺接口电路集成技术研究
摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第13-29页 |
1.1 课题背景 | 第13页 |
1.2 硅陀螺及其接口电路国内外研究现状 | 第13-25页 |
1.2.1 国外硅陀螺及其接口电路研究现状 | 第15-18页 |
1.2.2 国内硅陀螺及其接口电路研究现状 | 第18-25页 |
1.3 硅陀螺接口电路研究存在的主要问题 | 第25-26页 |
1.4 研究的目的和意义 | 第26-27页 |
1.5 本文的主要研究内容 | 第27-29页 |
第2章 硅陀螺原理及电学模型研究 | 第29-43页 |
2.1 引言 | 第29页 |
2.2 硅陀螺工作原理 | 第29-37页 |
2.2.1 哥里奥利力 | 第29-31页 |
2.2.2 硅陀螺力学运动原理 | 第31-32页 |
2.2.3 硅陀螺驱动、检测原理 | 第32-37页 |
2.3 硅陀螺等效系统电学模型研究 | 第37-42页 |
2.3.1 硅陀螺基本电学模型研究 | 第37-39页 |
2.3.2 微机械陀螺非理想特性分析及建模 | 第39-42页 |
2.4 本章小结 | 第42-43页 |
第3章 硅陀螺低相位噪声驱动研究与电路设计 | 第43-62页 |
3.1 引言 | 第43页 |
3.2 硅陀螺闭环自激驱动电路原理研究 | 第43-45页 |
3.3 硅陀螺驱动电路时变相位噪声模型研究 | 第45-52页 |
3.3.1 硅陀螺驱动信号相位噪声分析 | 第45-46页 |
3.3.2 自激驱动环路时变模型建立 | 第46-52页 |
3.4 硅陀螺驱动幅值稳定控制研究 | 第52-55页 |
3.5 硅陀螺低相位噪声驱动电路设计 | 第55-61页 |
3.5.1 硅陀螺驱动电路总体设计 | 第55-56页 |
3.5.2 低相位噪声驱动电路设计 | 第56-60页 |
3.5.3 高频正弦载波电路设计 | 第60页 |
3.5.4 硅陀螺驱动电路仿真 | 第60-61页 |
3.6 本章小结 | 第61-62页 |
第4章 硅陀螺高精度敏感检测电路研究与设计 | 第62-82页 |
4.1 引言 | 第62页 |
4.2 硅陀螺敏感检测电路原理研究 | 第62-63页 |
4.3 硅陀螺角速度输出稳定性解析模型研究 | 第63-75页 |
4.3.1 检测模态噪声模型研究 | 第63-70页 |
4.3.2 解调参考信号相位噪声对稳定性的影响 | 第70页 |
4.3.3 结构非理想因素对稳定性的影响 | 第70-72页 |
4.3.4 电路参数失配对稳定性的影响 | 第72-73页 |
4.3.5 角速度输出稳定性解析模型 | 第73-75页 |
4.4 硅陀螺检测电路设计与仿真 | 第75-81页 |
4.4.1 微陀螺检测电路总体设计 | 第75-76页 |
4.4.2 电荷放大器设计 | 第76-78页 |
4.4.3 正交消除电路设计 | 第78-79页 |
4.4.4 硅陀螺敏感检测电路仿真结果 | 第79-81页 |
4.5 本章小结 | 第81-82页 |
第5章 硅陀螺温度补偿研究与低温漂电路设计 | 第82-101页 |
5.1 引言 | 第82页 |
5.2 硅陀螺机械结构温度特性模型研究 | 第82-89页 |
5.2.1 硅陀螺角速度灵敏度温度特性模型研究 | 第82-88页 |
5.2.2 硅陀螺电路零位温度特性模型研究 | 第88-89页 |
5.3 硅陀螺角速度输出温度补偿方法研究 | 第89-94页 |
5.4 硅陀螺低温漂接口电路设计 | 第94-100页 |
5.4.1 温度补偿电路设计 | 第94-95页 |
5.4.2 恒定跨导运算放大器设计 | 第95-98页 |
5.4.3 低温漂带隙基准电压源设计 | 第98-100页 |
5.5 本章小结 | 第100-101页 |
第6章 硅陀螺接口ASIC设计与测试分析 | 第101-127页 |
6.1 引言 | 第101页 |
6.2 硅陀螺接口ASIC晶体管级电路设计 | 第101-109页 |
6.2.1 硅陀螺接口ASIC整体设计 | 第101-102页 |
6.2.2 硅陀螺接口ASIC中关键模块设计 | 第102-108页 |
6.2.3 接口ASIC版图设计及后仿真 | 第108-109页 |
6.3 硅陀螺接口ASIC芯片测试 | 第109-116页 |
6.3.1 低相位噪声驱动电路测试与分析 | 第110-112页 |
6.3.2 硅陀螺接口电路噪声测试 | 第112-114页 |
6.3.3 硅陀螺接口电路电容分辨率测试 | 第114-115页 |
6.3.4 CV变换电路全温相移测试 | 第115-116页 |
6.4 硅陀螺整机性能测试 | 第116-124页 |
6.4.1 标度因子、线性度测试 | 第117-118页 |
6.4.2 闭环自激驱动功能测试 | 第118-119页 |
6.4.3 零位稳定性测试 | 第119-121页 |
6.4.4 角速度输出温度补偿测试 | 第121-124页 |
6.5 硅陀螺及其接口ASIC性能对比 | 第124-126页 |
6.6 本章小结 | 第126-127页 |
结论 | 第127-129页 |
参考文献 | 第129-137页 |
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第137-140页 |
致谢 | 第140-141页 |
个人简历 | 第141页 |