VHF频段复介电常数测试方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 谐振腔法 | 第9-10页 |
| 1.2.2 电路谐振法 | 第10-11页 |
| 1.2.3 自由空间法 | 第11页 |
| 1.2.4 开口同轴法 | 第11-12页 |
| 1.2.5 传输/反射法 | 第12页 |
| 1.3 本文主要创新 | 第12页 |
| 1.4 本文主要结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 复介电常数测量的理论基础 | 第14-22页 |
| 2.1 复介电常数的来源及物理含义 | 第14-15页 |
| 2.2 VHF频段复介电常数测试方法分析 | 第15-16页 |
| 2.3 同轴线中的电磁场及性能分析 | 第16-19页 |
| 2.3.1 边界条件 | 第16-17页 |
| 2.3.2 性能分析 | 第17-19页 |
| 2.4 微波网络基础 | 第19-20页 |
| 2.5 有限元法介绍 | 第20-22页 |
| 第三章 同轴传输/反射法理论分析 | 第22-28页 |
| 3.1 同轴传输/反射法基本原理 | 第22-23页 |
| 3.2 同轴传输/反射法公式推导 | 第23-26页 |
| 3.3 多值性问题分析 | 第26-27页 |
| 3.4 厚度谐振问题 | 第27页 |
| 3.5 S参数转换 | 第27-28页 |
| 第四章 同轴线的建模与仿真 | 第28-50页 |
| 4.1 同轴线尺寸的选取 | 第28-30页 |
| 4.2 同轴线加载介质的设计 | 第30-34页 |
| 4.3 测试结构的设计 | 第34-38页 |
| 4.3.1 内导体的设计 | 第34-36页 |
| 4.3.2 同轴外腔的设计 | 第36-38页 |
| 4.4 凸台结构与非凸台结构差值分析及修正 | 第38-50页 |
| 4.4.1 差值分析 | 第38-44页 |
| 4.4.2 修正 | 第44-46页 |
| 4.4.3 修正方法验证 | 第46-48页 |
| 4.4.4 实物加工 | 第48-50页 |
| 第五章 样品的复介电常数测试与误差分析 | 第50-62页 |
| 5.1 矢量网络分析仪的介绍及基本工作原理 | 第50页 |
| 5.1.1 N5235A简介 | 第50页 |
| 5.1.2 N5235A基本工作原理 | 第50页 |
| 5.2 样品的制备 | 第50-51页 |
| 5.3 测试系统的校准 | 第51-53页 |
| 5.3.1 矢量网络分析仪测量误差 | 第52页 |
| 5.3.2 全二端口校准 | 第52-53页 |
| 5.3.3 注意事项 | 第53页 |
| 5.4 样品测试 | 第53-57页 |
| 5.4.1 样品的测试安装步骤 | 第53-55页 |
| 5.4.2 样品测试结果 | 第55-57页 |
| 5.5 测试软件界面编写 | 第57-59页 |
| 5.6 误差分析 | 第59-62页 |
| 5.6.1 误差与测量不确定度 | 第59-60页 |
| 5.6.2 测量误差来源 | 第60页 |
| 5.6.3 测量不确定度计算 | 第60-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-63页 |
| 6.1 本文总结 | 第62页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 附录 | 第67-80页 |
| 攻读硕士期间取得的成果 | 第80页 |
