组合式磁电编码器的研制
摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-21页 |
1.1 课题研究背景 | 第9-10页 |
1.2 研究的目的和意义 | 第10-11页 |
1.3 国内外研究现状 | 第11-19页 |
1.3.1 磁电编码器结构和分类 | 第11-18页 |
1.3.2 磁电编码器的研究现状和发展趋势 | 第18-19页 |
1.4 课题主要研究内容 | 第19-21页 |
第2章 组合式磁电编码器结构分析与电路设计 | 第21-30页 |
2.1 引言 | 第21页 |
2.2 初始信号发生结构分析 | 第21-24页 |
2.2.1 编码器信号发生结构理论分析 | 第21-22页 |
2.2.2 组合式磁电编码器信号发生结构设计 | 第22-24页 |
2.3 磁电编码器磁场有限元分析 | 第24-28页 |
2.3.1 导磁体对编码器内部磁场分布的影响 | 第25-27页 |
2.3.2 屏蔽板对编码器内部磁场分布的影响 | 第27-28页 |
2.4 组合式磁电编码器信号电路设计 | 第28-29页 |
2.5 本章小结 | 第29-30页 |
第3章 组合式磁电编码器算法 | 第30-48页 |
3.1 引言 | 第30页 |
3.2 磁电编码器基础算法分析 | 第30-34页 |
3.2.1 分区间反正切算法 | 第30-31页 |
3.2.2 校准查表算法 | 第31-32页 |
3.2.3 过采样与移动平均算法 | 第32-34页 |
3.3 组合式磁电编码器细分算法研究 | 第34-43页 |
3.3.1 细分算法理论研究 | 第34-35页 |
3.3.2 区间判断矫正算法 | 第35-42页 |
3.3.3 多对极标定查表算法 | 第42-43页 |
3.4 磁电编码器补偿算法的分析与应用 | 第43-47页 |
3.4.1 磁电编码器温度漂移自适应补偿算法 | 第44-45页 |
3.4.2 磁电编码器预测补偿算法 | 第45-47页 |
3.5 本章小结 | 第47-48页 |
第4章 组合式磁电编码器误差分析 | 第48-58页 |
4.1 引言 | 第48页 |
4.2 编码器回程误差来源分析 | 第48-50页 |
4.3 磁滞效应导致的回程误差 | 第50-54页 |
4.4 校准系统导致的误差 | 第54-56页 |
4.4.1 轴系引起的回程误差 | 第54-55页 |
4.4.2 联轴节引起的回程误差 | 第55页 |
4.4.3 校准系统加工装配误差 | 第55-56页 |
4.5 延时误差 | 第56-57页 |
4.6 本章小结 | 第57-58页 |
第5章 组合式磁电编码器实验结果分析 | 第58-68页 |
5.1 引言 | 第58页 |
5.2 校准系统工作原理 | 第58-60页 |
5.2.1 校准系统总体构成 | 第58-59页 |
5.2.2 校准系统工作过程 | 第59页 |
5.2.3 校准软件数据处理 | 第59-60页 |
5.3 精度与分辨率检测实验和结果分析 | 第60-66页 |
5.3.1 44对极组合式磁电编码器实验结果 | 第61-62页 |
5.3.2 8 对极组合式磁电编码器实验结果 | 第62-64页 |
5.3.3 单对极组合式磁电编码器实验结果 | 第64-66页 |
5.4 提高精度与分辨率方法展望 | 第66-67页 |
5.5 本章小结 | 第67-68页 |
结论 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
致谢 | 第73页 |