摘要 | 第3-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
第1章 绪论 | 第11-19页 |
1.1 前言 | 第11-12页 |
1.2 BCZT基无铅压电陶瓷的研究现状 | 第12-13页 |
1.3 BCZT陶瓷稳定性研究 | 第13-14页 |
1.4 压电扬声器 | 第14-17页 |
1.4.1 压电扬声器的工作原理 | 第14-15页 |
1.4.2 压电扬声器的声频特征 | 第15-16页 |
1.4.3 压电扬声器的组成 | 第16-17页 |
1.4.4 压电扬声器对材料的性能要求 | 第17页 |
1.5 本论文研究内容 | 第17-19页 |
第2章 Ba(W_(0.5)Cu_(0.5))O_3添加量对(Ba_(0.85)Ca_(0.15))(Zr_(0.1)Ti_(0.9))O_3陶瓷性能的影响 | 第19-33页 |
2.1 制备技术 | 第19-21页 |
2.1.1 陶瓷粉体的制备工艺 | 第19-21页 |
2.2 BCW含量对陶瓷性能的影响 | 第21-30页 |
2.2.1 BCW含量对陶瓷相结构的影响 | 第21-22页 |
2.2.2 BCW含量对陶瓷显微结及致密性的影响 | 第22-24页 |
2.2.3 BCW含量对陶瓷介电性能的影响 | 第24-27页 |
2.2.4 BCW含量对陶瓷压电性能的影响 | 第27-28页 |
2.2.5 BCW含量对陶瓷铁电性能的影响 | 第28-30页 |
2.3 内部机理讨论 | 第30-31页 |
2.4 本章小结 | 第31-33页 |
第3章 工艺对98.8 wt.%BCZT-1.2 wt.%BCW陶瓷的影响 | 第33-41页 |
3.1 预烧温度对陶瓷性能的影响 | 第33-37页 |
3.1.1 不同预烧温度对陶瓷相结构的影响 | 第33-34页 |
3.1.2 不同预烧温度对陶瓷致密性的影响 | 第34页 |
3.1.3 不同预烧温度对陶瓷介电性能的影响 | 第34-35页 |
3.1.4 不同预烧温度对陶瓷压电性能的影响 | 第35-36页 |
3.1.5 不同预烧温度对陶瓷铁电性能的影响 | 第36-37页 |
3.2 烧结温度对陶瓷性能的影响 | 第37-40页 |
3.2.1 不同烧结温度对陶瓷相结构的影响 | 第37页 |
3.2.2 不同烧结温度对陶瓷致密性的影响 | 第37-38页 |
3.2.3 不同烧结温度对陶瓷介电性能的影响 | 第38-39页 |
3.2.4 不同烧结温度对陶瓷压电性能的影响 | 第39页 |
3.2.5 不同烧结温度对陶瓷铁电性能的影响 | 第39-40页 |
3.3 本章小结 | 第40-41页 |
第4章 (1-x)wt.%BCZT-x wt.%BCW陶瓷稳定性研究 | 第41-51页 |
4.1 测试条件 | 第41页 |
4.2 (1-x)wt.%BCZT-x wt.%BCW时间稳定性 | 第41-45页 |
4.2.1 常温放置下的时间稳定性 | 第41-43页 |
4.2.2 50℃放置下的时间稳定性 | 第43-45页 |
4.3 (1-x)wt.%BCZT-x wt.%BCW陶瓷的温度稳定性 | 第45-49页 |
4.3.1 不同温度下的压电性能的稳定性 | 第45-48页 |
4.3.2 不同温度下的铁电性能的稳定性 | 第48-49页 |
4.4 本章小结 | 第49-51页 |
第5章 单层无铅压电陶瓷器件 | 第51-61页 |
5.1 引言 | 第51页 |
5.2 单层压电扬声器的工艺流程 | 第51-55页 |
5.2.1 公斤级BCZT基粉体的制备 | 第51-53页 |
5.2.2 BCZT无铅压电扬声器陶瓷薄片的制备 | 第53-55页 |
5.3 烧结工艺对单层压电扬声器陶瓷薄片的影响 | 第55-57页 |
5.3.1 普通烧结工艺对扬声器陶瓷薄片的影响 | 第55-56页 |
5.3.2 特殊烧结工艺对扬声器陶瓷薄片的影响 | 第56-57页 |
5.4 BCZT无铅压电扬声器的试制 | 第57-58页 |
5.5 压电扬声器的声学性能 | 第58-59页 |
5.6 本章小结 | 第59-61页 |
第6章 全文结论和进一步工作建议 | 第61-65页 |
6.1 本文主要结论 | 第61-62页 |
6.2 全文新见解 | 第62页 |
6.3 进一步工作建议 | 第62-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
致谢 | 第69-71页 |
攻读硕士学位期间科研成果 | 第71页 |