| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 半导体低频噪声简介 | 第10-13页 |
| 1.3.1 半导体低频噪声的产生机理 | 第10-12页 |
| 1.3.2 1/f 噪声的特性 | 第12页 |
| 1.3.3 齐纳二极管低频噪声特性及可靠性 | 第12-13页 |
| 1.4 课题来源及工作内容 | 第13-15页 |
| 第二章 1/f 噪声测试系统的搭建 | 第15-25页 |
| 2.1 测量方法的选择 | 第15-17页 |
| 2.1.1 直接测量法 | 第15页 |
| 2.1.2 互谱测量法 | 第15-17页 |
| 2.2 接地技术 | 第17-18页 |
| 2.3 测试平台的构成 | 第18-19页 |
| 2.3.1 偏置电路 | 第19页 |
| 2.3.2 低噪声放大器 | 第19页 |
| 2.3.3 数据采集卡 | 第19页 |
| 2.4 系统软件流程 | 第19-23页 |
| 2.5 本章小结 | 第23-25页 |
| 第三章 基于时域分析的 1/f 噪声参数估计 | 第25-39页 |
| 3.1 基于小波分析的 1/f 噪声参数估计方法 | 第25-29页 |
| 3.1.1 小波变换理论基础 | 第25页 |
| 3.1.2 1/f 噪声参数小波估计方法 | 第25-29页 |
| 3.2 1/F 噪声参数的 HURST 指数估计法 | 第29-37页 |
| 3.2.1 重标度基差分析法(R/S) | 第30-31页 |
| 3.2.2 去趋势分析法(DFA) | 第31-33页 |
| 3.2.3 方差-时间图法(VTP) | 第33-34页 |
| 3.2.4 Hurst 指数估计方法的修正 | 第34-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 1/f 噪声频域分析方法 | 第39-57页 |
| 4.1 基于傅立叶变换的互功率谱 1/f 噪声参数估计 | 第39-43页 |
| 4.1.1 基于傅立叶变换的互功率谱估计 | 第39-40页 |
| 4.1.2 半导体低频噪声参数拟合方案的选择 | 第40-43页 |
| 4.2 基于 AR 模型的齐纳二极管低频噪声参数估计 | 第43-51页 |
| 4.2.1 AR 模型与功率谱的关系 | 第43-44页 |
| 4.2.2 互相关函数的 Yule-Walker 方程 | 第44-46页 |
| 4.2.3 互相关 AR 模型参数估计的 SVD 分解法 | 第46-47页 |
| 4.2.4 AR 模型阶数的选择 | 第47-51页 |
| 4.3 基于互高阶累积量的 1/f 噪声参数估计 | 第51-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 5.1 全文总结 | 第57页 |
| 5.2 展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 作者简介及科研成果 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
