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基于数学形态骨架的电流互感器饱和检测及FPGA片上保护系统开发

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第11-19页
    1.1 抗电流互感器饱和策略第11-13页
        1.1.1 闭锁策略第11页
        1.1.2 补偿策略第11-12页
        1.1.3 两种抗 CT 饱和策略的评价第12-13页
    1.2 微机保护装置的发展趋势第13-14页
    1.3 课题的提出及意义第14-16页
        1.3.1 基于数学形态学骨架的 CT 饱和检测算法的提出及意义第15页
        1.3.2 FPGA 片上保护系统的提出及意义第15-16页
    1.4 本论文的结构安排第16-17页
    1.5 本章小结第17-19页
第二章 电流互感器的饱和特性及仿真第19-25页
    2.1 电流互感器概述第19页
    2.2 电流互感器饱和特性第19-21页
    2.3 各种因素对电流互感器饱和影响第21页
    2.4 电流互感器仿真模型的选择第21-22页
    2.5 电流互感器饱和仿真第22-23页
    2.6 本章小结第23-25页
第三章 数学形态学骨架算法第25-33页
    3.1 数学形态学的基本原理第25-28页
        3.1.1 闵可夫斯基加法和减法第25-26页
        3.1.2 数学形态学二值膨胀和腐蚀第26页
        3.1.3 灰度数学形态学第26-28页
    3.2 数学形态学骨架第28-32页
        3.2.1 数学形态学骨架的定义第28-29页
        3.2.2 灰度数学形态学骨架第29-31页
        3.2.3 灰度数学形态学主骨架第31-32页
    3.3 本章小结第32-33页
第四章 基于数学形态学骨架的 CT 饱和检测算法第33-45页
    4.1 基于灰度数学形态学骨架的信号波形对称性分析第33-36页
        4.1.1 对称性分析窗口第33-34页
        4.1.2 信号的骨架特征第34-35页
        4.1.3 CT 饱和检测的骨架判据第35页
        4.1.4 用于骨架提取的结构元素构造原则第35-36页
    4.2 基于数学形态学骨架的 CT 饱和检测算法第36-42页
        4.2.1 CT 饱和检测算法第36-38页
        4.2.2 算例分析第38-42页
    4.3 算法性能分析和建议第42-44页
        4.3.1 算法性能分析第42-43页
        4.3.2 灰度形态学骨架应用的一些建议第43-44页
    4.4 本章小结第44-45页
第五章 FPGA 片上保护系统之硬件设计第45-53页
    5.1 系统规范第45-46页
    5.2 电源单元第46-47页
    5.3 FPGA 和存储器第47-48页
    5.4 数据采集单元第48-49页
    5.5 通信单元第49-50页
    5.6 开关量输入输出单元第50页
    5.7 印刷电路板设计第50-51页
    5.8 本章小结第51-53页
第六章 FPGA 片上保护系统之软件设计及测试第53-63页
    6.1 FPGA 系统的内部逻辑结构第53-54页
    6.2 SPOC 设计第54-56页
    6.3 ADC 控制器第56-58页
    6.4 UC/OS Ⅱ 实时操作系统第58-60页
    6.5 基于 OMICRON 测试仪的硬件测试平台搭建第60-61页
    6.6 CT 饱和检测算法的的实现及测试第61-62页
        6.6.1 数据采集单元测试第61-62页
        6.6.2 CT 饱和检测算法测试第62页
    6.7 本章小结第62-63页
第七章 总结与展望第63-65页
    7.1 总结第63-64页
    7.2 展望第64-65页
参考文献第65-67页
附录一 数据采集单元 PCB 板图第67-68页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第68-69页
致谢第69-70页
附件第70页

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