摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-19页 |
1.1 抗电流互感器饱和策略 | 第11-13页 |
1.1.1 闭锁策略 | 第11页 |
1.1.2 补偿策略 | 第11-12页 |
1.1.3 两种抗 CT 饱和策略的评价 | 第12-13页 |
1.2 微机保护装置的发展趋势 | 第13-14页 |
1.3 课题的提出及意义 | 第14-16页 |
1.3.1 基于数学形态学骨架的 CT 饱和检测算法的提出及意义 | 第15页 |
1.3.2 FPGA 片上保护系统的提出及意义 | 第15-16页 |
1.4 本论文的结构安排 | 第16-17页 |
1.5 本章小结 | 第17-19页 |
第二章 电流互感器的饱和特性及仿真 | 第19-25页 |
2.1 电流互感器概述 | 第19页 |
2.2 电流互感器饱和特性 | 第19-21页 |
2.3 各种因素对电流互感器饱和影响 | 第21页 |
2.4 电流互感器仿真模型的选择 | 第21-22页 |
2.5 电流互感器饱和仿真 | 第22-23页 |
2.6 本章小结 | 第23-25页 |
第三章 数学形态学骨架算法 | 第25-33页 |
3.1 数学形态学的基本原理 | 第25-28页 |
3.1.1 闵可夫斯基加法和减法 | 第25-26页 |
3.1.2 数学形态学二值膨胀和腐蚀 | 第26页 |
3.1.3 灰度数学形态学 | 第26-28页 |
3.2 数学形态学骨架 | 第28-32页 |
3.2.1 数学形态学骨架的定义 | 第28-29页 |
3.2.2 灰度数学形态学骨架 | 第29-31页 |
3.2.3 灰度数学形态学主骨架 | 第31-32页 |
3.3 本章小结 | 第32-33页 |
第四章 基于数学形态学骨架的 CT 饱和检测算法 | 第33-45页 |
4.1 基于灰度数学形态学骨架的信号波形对称性分析 | 第33-36页 |
4.1.1 对称性分析窗口 | 第33-34页 |
4.1.2 信号的骨架特征 | 第34-35页 |
4.1.3 CT 饱和检测的骨架判据 | 第35页 |
4.1.4 用于骨架提取的结构元素构造原则 | 第35-36页 |
4.2 基于数学形态学骨架的 CT 饱和检测算法 | 第36-42页 |
4.2.1 CT 饱和检测算法 | 第36-38页 |
4.2.2 算例分析 | 第38-42页 |
4.3 算法性能分析和建议 | 第42-44页 |
4.3.1 算法性能分析 | 第42-43页 |
4.3.2 灰度形态学骨架应用的一些建议 | 第43-44页 |
4.4 本章小结 | 第44-45页 |
第五章 FPGA 片上保护系统之硬件设计 | 第45-53页 |
5.1 系统规范 | 第45-46页 |
5.2 电源单元 | 第46-47页 |
5.3 FPGA 和存储器 | 第47-48页 |
5.4 数据采集单元 | 第48-49页 |
5.5 通信单元 | 第49-50页 |
5.6 开关量输入输出单元 | 第50页 |
5.7 印刷电路板设计 | 第50-51页 |
5.8 本章小结 | 第51-53页 |
第六章 FPGA 片上保护系统之软件设计及测试 | 第53-63页 |
6.1 FPGA 系统的内部逻辑结构 | 第53-54页 |
6.2 SPOC 设计 | 第54-56页 |
6.3 ADC 控制器 | 第56-58页 |
6.4 UC/OS Ⅱ 实时操作系统 | 第58-60页 |
6.5 基于 OMICRON 测试仪的硬件测试平台搭建 | 第60-61页 |
6.6 CT 饱和检测算法的的实现及测试 | 第61-62页 |
6.6.1 数据采集单元测试 | 第61-62页 |
6.6.2 CT 饱和检测算法测试 | 第62页 |
6.7 本章小结 | 第62-63页 |
第七章 总结与展望 | 第63-65页 |
7.1 总结 | 第63-64页 |
7.2 展望 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-67页 |
附录一 数据采集单元 PCB 板图 | 第67-68页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第68-69页 |
致谢 | 第69-70页 |
附件 | 第70页 |