拍摄深度限定的溶液晶体粒度分布图像识别方法研究
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 粒度分布测定研究 | 第12-14页 |
| 1.2.2 图像分割研究 | 第14-15页 |
| 1.2.3 图像识别深度信息研究 | 第15-16页 |
| 1.3 研究工作与章节安排 | 第16-21页 |
| 1.3.1 研究工作 | 第16-17页 |
| 1.3.2 章节安排 | 第17-21页 |
| 第二章 溶液中晶体图像分 | 第21-45页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 溶液中晶体颗粒图像采集 | 第21-23页 |
| 2.2.1 图像采集系统结构 | 第21-23页 |
| 2.2.2 溶液晶体图像采集实验 | 第23页 |
| 2.3 图像压缩 | 第23-26页 |
| 2.4 图像增强 | 第26-29页 |
| 2.4.1 背景图像获取 | 第26-27页 |
| 2.4.2 背景光均衡及锐化 | 第27-29页 |
| 2.5 晶体图像分割 | 第29-41页 |
| 2.5.1 二维Otsu单阈值分割算法 | 第29-32页 |
| 2.5.2 基于改进双阈值分割算法的晶体图像分割 | 第32-35页 |
| 2.5.3 晶体颗粒图像重分割 | 第35-41页 |
| 2.6 算法验证 | 第41-44页 |
| 2.7 小结 | 第44-45页 |
| 第三章 图像识别溶液晶体深度最优选择 | 第45-61页 |
| 3.1 引言 | 第45页 |
| 3.2 溶液中不同深度晶体颗粒图像采集实验 | 第45-46页 |
| 3.3 基于梯度的图像模糊度评价函数改进 | 第46-53页 |
| 3.3.1 散焦测距原理 | 第49-50页 |
| 3.3.2 梯度图像获取 | 第50-51页 |
| 3.3.3 模糊度评价函数构建 | 第51-53页 |
| 3.4 深度与模糊度的回归分析 | 第53-56页 |
| 3.5 最优深度选择 | 第56-58页 |
| 3.6 小结 | 第58-61页 |
| 第四章 溶液晶体粒度分布估计 | 第61-71页 |
| 4.1 引言 | 第61页 |
| 4.2 成像系统尺寸标定 | 第61-63页 |
| 4.2.1 成像系统标定实验 | 第61页 |
| 4.2.2 千分尺图像处理 | 第61-63页 |
| 4.3 晶体实际尺寸计算 | 第63-65页 |
| 4.3.1 连通域外接矩形计算 | 第64页 |
| 4.3.2 晶体几何参数计算 | 第64-65页 |
| 4.4 晶体粒数密度及粒度分布估计 | 第65-70页 |
| 4.4.1 粒数密度统计 | 第65-67页 |
| 4.4.2 粒度分布估计 | 第67-70页 |
| 4.5 小结 | 第70-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-75页 |
| 5.1 工作总结 | 第71-72页 |
| 5.2 研究展望 | 第72-75页 |
| 参考文献 | 第75-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第83页 |
| 攻读硕士学位期间参与的项目 | 第83-84页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第84页 |
