基于二维视觉系统的精密零件反求技术研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第1章 绪论 | 第8-12页 |
1.1 课题来源 | 第8页 |
1.2 课题背景及意义 | 第8-9页 |
1.3 国内外的发展现状 | 第9-11页 |
1.3.1 国外发展现状 | 第10页 |
1.3.2 国内发展现状 | 第10-11页 |
1.4 视觉测量技术的发展趋势 | 第11页 |
1.5 本文主要研究内容 | 第11-12页 |
第2章 图像拼接预处理和边缘提取 | 第12-21页 |
2.1 引言 | 第12页 |
2.2 零件图像采集 | 第12-13页 |
2.3 图像拼接算法研究 | 第13-16页 |
2.3.1 图像配准原理 | 第13-15页 |
2.3.2 图像变换与融合原理 | 第15-16页 |
2.4 图像滤波去噪与分割 | 第16-20页 |
2.4.1 图像的去噪 | 第17-18页 |
2.4.2 图像分割 | 第18-20页 |
2.5 本章小结 | 第20-21页 |
第3章 轮廓提取与图元识别技术 | 第21-27页 |
3.1 引言 | 第21页 |
3.2 图像单像素边缘提取 | 第21-23页 |
3.3 轮廓筛选方法 | 第23-24页 |
3.4 图元分割识别技术 | 第24-26页 |
3.5 本章小结 | 第26-27页 |
第4章 图元的约束条件拟合法和矢量化输出 | 第27-43页 |
4.1 引言 | 第27页 |
4.2 直线图元的最小二乘法拟合 | 第27-29页 |
4.3 圆形独立轮廓的最小二乘法拟合 | 第29页 |
4.4 圆弧图元最小二乘法拟合 | 第29-34页 |
4.4.1 圆弧过一点约束类型 | 第30页 |
4.4.2 圆弧过两点约束类型 | 第30-32页 |
4.4.3 圆弧过一点相切约束 | 第32-33页 |
4.4.4 过一点过切线约束类型 | 第33页 |
4.4.5 过双点双切线约束类型 | 第33-34页 |
4.5 图元识别与拟合过程 | 第34-36页 |
4.6 两种最小二乘拟合方法的对比 | 第36-38页 |
4.7 DXF 文件写入技术 | 第38-42页 |
4.8 本章小结 | 第42-43页 |
第5章 反求系统验证实验 | 第43-56页 |
5.1 引言 | 第43页 |
5.2 图像拼接系统验证 | 第43-45页 |
5.3 反求测量实验 | 第45-55页 |
5.3.1 零件反求测量实验 | 第45-46页 |
5.3.2 零件反求轮廓封闭性与约束条件实验 | 第46-55页 |
5.4 本章小结 | 第55-56页 |
结论 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-62页 |
致谢 | 第62页 |