| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第9-10页 |
| 1.2 IGBT模块通态电热特性研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 IGBT模块失效机理研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 IGBT模块失效模式研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.3 IGBT模块状态监测和安全评估现状 | 第12页 |
| 1.2.4 IGBT模块加速退化试验研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第14-17页 |
| 第二章 IGBT模块电热特性及其退化分析 | 第17-25页 |
| 2.1 IGBT基本结构和通态特性分析 | 第17-20页 |
| 2.1.1 IGBT基本结构分析 | 第17-18页 |
| 2.1.2 IGBT通态特性分析 | 第18-20页 |
| 2.2 IGBT通态电热特性研究 | 第20-21页 |
| 2.2.1 IGBT集电极电流分量研究 | 第20页 |
| 2.2.2 温度对单极型和双极型器件通态电阻影响研究 | 第20-21页 |
| 2.2.3 IGBT饱和压降的温敏参数研究 | 第21页 |
| 2.3 IGBT模块电热特性退化分析 | 第21-24页 |
| 2.3.1 封装相关的退化失效分析 | 第22-23页 |
| 2.3.2 芯片相关的退化失效分析 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 IGBT模块电热特性加速退化试验研究 | 第25-43页 |
| 3.1 IGBT模块加速退化试验设计 | 第25-29页 |
| 3.1.1 IGBT模块加速退化试验分析 | 第25-26页 |
| 3.1.2 IGBT模块加速退化试验方案设计 | 第26-28页 |
| 3.1.3 IGBT模块加速退化试验装置 | 第28-29页 |
| 3.2 IGBT模块电热特性测试试验研究 | 第29-37页 |
| 3.2.1 恒定小电流下通态电热特性测试试验研究 | 第29-33页 |
| 3.2.2 短时脉冲电流下通态电热特性测试试验研究 | 第33-35页 |
| 3.2.3 恒定电流加热条件下通态电热特性测试试验研究 | 第35-37页 |
| 3.3 IGBT模块电热特性加速退化试验程序设计 | 第37-38页 |
| 3.4 IGBT模块电热特性加速退化试验结果 | 第38-41页 |
| 3.4.1 恒定小电流下通态电热特性测试试验结果分析 | 第38-39页 |
| 3.4.2 短时脉冲电流下通态电热特性测试试验结果分析 | 第39-40页 |
| 3.4.3 恒定电流加热条件下通态电热特性测试试验结果分析 | 第40-41页 |
| 3.5 本章小结 | 第41-43页 |
| 第四章 IGBT模块热稳态通态电热特性退化研究 | 第43-57页 |
| 4.1 IGBT模块饱和压降模型理论研究 | 第43-44页 |
| 4.2 热稳态时模块通态电热特性模型研究 | 第44-50页 |
| 4.2.1 恒定小电流下模块通态电热行建模研究 | 第44-47页 |
| 4.2.2 短时脉冲大电流下模块通态电热特性建模研究 | 第47-50页 |
| 4.3 模块通态电热特性退化规律研究 | 第50-54页 |
| 4.3.1 恒定小电流时模块电热特性退化研究 | 第50-51页 |
| 4.3.2 短时脉冲大电流时模块通态电热特性退化研究 | 第51-54页 |
| 4.4 模块饱和压降退化分析 | 第54-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 IGBT模块热瞬态退化研究 | 第57-67页 |
| 5.1 模块热瞬态壳温上升过程研究 | 第57-62页 |
| 5.1.1 模块热瞬态壳温数学模型研究 | 第58-60页 |
| 5.1.2 模块热瞬态壳温退化分析 | 第60-62页 |
| 5.2 模块热瞬态结温上升过程研究 | 第62-65页 |
| 5.2.1 模块热瞬态结温数学模型研究 | 第62-64页 |
| 5.2.2 模块热瞬态结温退化分析 | 第64-65页 |
| 5.3 IGBT模块热瞬态退化机理分析 | 第65-66页 |
| 5.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75页 |
