摘要 | 第2-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
1.1 可靠性工程概述 | 第8-12页 |
1.1.1 可靠性研究的起源 | 第8-9页 |
1.1.2 国内外可靠性研究的发展与应用 | 第9-10页 |
1.1.3 可靠性工程研究的主要内容 | 第10-11页 |
1.1.4 可靠性试验 | 第11-12页 |
1.2 家用电子产品可靠性研究现状与课题研究背景 | 第12-13页 |
1.3 本文研究内容与研究方法 | 第13-16页 |
第二章 液晶电视故障分析 | 第16-30页 |
引言 | 第16页 |
2.1 故障和可靠性 | 第16-17页 |
2.2 液晶电视产品故障 | 第17-24页 |
2.2.1 客户反馈问题 | 第17-22页 |
2.2.2 我公司产品的可靠性现状 | 第22-24页 |
2.3 液晶电视系统故障分析 | 第24-26页 |
2.3.1 液晶屏失效分析 | 第24-25页 |
2.3.2 主板失效分析 | 第25-26页 |
2.4 建立液晶电视产品故障树 | 第26-29页 |
2.4.1 建立故障树 | 第27页 |
2.4.2 故障树分析 | 第27-29页 |
本章小结 | 第29-30页 |
第三章 加速寿命试验及试验统计模型 | 第30-39页 |
3.1 寿命试验概述 | 第30-33页 |
3.1.1 寿命试验 | 第30-31页 |
3.1.2 加速寿命试验 | 第31页 |
3.1.3 加速寿命试验的分类 | 第31-33页 |
3.1.4 液晶电视加速寿命试验的确定 | 第33页 |
3.2 加速寿命试验的寿命分布 | 第33-35页 |
3.2.1 指数分布 | 第33-34页 |
3.2.2 威布尔分布 | 第34-35页 |
3.3 加速寿命试验的加速模型 | 第35-39页 |
3.3.1 寿命与应力之间的关系 | 第35-36页 |
3.3.2 几种加速模型 | 第36-38页 |
3.3.3 加速模型的选择 | 第38-39页 |
第四章 液晶电视可靠性试验方案设计 | 第39-54页 |
4.1 液晶电视加速寿命试验的应力设计 | 第39-40页 |
4.1.1 正常应力的选择 | 第39页 |
4.1.2 恒加速寿命试验最大应力和最小应力的确定 | 第39-40页 |
4.1.3 恒加速寿命应力间隔的确定 | 第40页 |
4.2 液晶电视加速寿命试验的试验设计 | 第40-43页 |
4.2.1 正交设计 | 第41页 |
4.2.2 均匀设计 | 第41-42页 |
4.2.3 液晶电视加速寿命试验的试验设计 | 第42-43页 |
4.3 液晶电视加速寿命试验的试验设备 | 第43-47页 |
4.3.1 恒温恒湿试验室 | 第43-45页 |
4.3.2 电源供应器 | 第45页 |
4.3.3 电视频道信号发生器 | 第45-46页 |
4.3.4 色彩分析仪 | 第46-47页 |
4.4 液晶电视加速寿命试验的样品处理 | 第47-48页 |
4.4.1 试验样品的选取 | 第48页 |
4.4.2 试验样品的分组 | 第48页 |
4.5 液晶电视加速寿命试验的试验程序设计 | 第48-54页 |
4.5.1 试验程序设定 | 第48-49页 |
4.5.2 试验检查时间的确定 | 第49页 |
4.5.3 试验中间检测内容 | 第49页 |
4.5.4 每组试验的停止时间 | 第49-50页 |
4.5.5 产品失效判据 | 第50页 |
4.5.6 失效数计算以及失效时间的估算 | 第50-51页 |
4.5.7 失效样品的处理 | 第51页 |
4.5.8 试验结果的记录 | 第51-54页 |
第五章 液晶电视寿命试验数据处理 | 第54-67页 |
5.1 可靠性特征量 | 第54页 |
5.2 寿命分布的假设检验 | 第54-58页 |
5.2.1 威布尔分布检验 | 第55-56页 |
5.2.2 指数分布检验 | 第56-58页 |
5.3 试验数据处理和统计分析 | 第58-67页 |
5.3.1 正常应力试验数据的处理 | 第58-60页 |
5.3.2 加速应力试验数据的处理 | 第60-67页 |
第六章 研究结论 | 第67-69页 |
6.1 研究工作总结 | 第67-68页 |
6.2 结论 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
致谢 | 第71-72页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第72-74页 |