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高压下Zn2SnO4晶体结构相变和电输运性质中的晶界效应

中文摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第10-18页
    1.1 Zn_2SnO_4研究背景第10-12页
    1.2 Zn_2SnO_4高压研究意义第12-16页
        1.2.1 Zn_2SnO_4高压结构研究意义第12-13页
        1.2.2 Zn_2SnO_4高压电学研究意义第13-14页
        1.2.3 Zn_2SnO_4高压表面与界面研究意义第14-16页
    1.3 本论文选题目的和意义第16页
    1.4 论文各部分的主要内容第16-18页
第二章 高压实验装置与技术第18-32页
    2.1 金刚石对顶砧实验装置第18-20页
    2.2 测量电路的集成第20-25页
        2.2.1 微电路的集成过程第20-23页
        2.2.2 绝缘垫片的制作过程第23-24页
        2.2.3 样品的组装第24-25页
    2.3 交流阻抗谱的测量方法第25-29页
        2.3.1 交流阻抗谱在高压原位电学研究中的应用第25-26页
        2.3.2 交流阻抗谱测量原理及表示方法第26-29页
        2.3.3 交流阻抗谱的测量装置第29页
    2.4 高压同步辐射概述第29-31页
    2.5 本章小结第31-32页
第三章 高压下 Zn_2SnO_4的结构性质第32-38页
    3.1 Zn_2SnO_4的高压同步辐射实验第32-35页
        3.1.1 Zn_2SnO_4样品介绍第32页
        3.1.2 Zn_2SnO_4的高压同步辐射实验第32-35页
    3.2 Zn_2SnO_4的高压结构分析第35-37页
    3.3 本章小结第37-38页
第四章 高压下 Zn_2SnO_4的电学性质研究第38-43页
    4.1 高压下 Zn_2SnO_4的交流阻抗谱实验第38-42页
    4.2 本章小结第42-43页
第五章 Zn_2SnO_4样品卸压后的 HRTEM 表征第43-46页
    5.1 Zn_2SnO_4样品卸压后的 HRTEM 表征第43-44页
    5.2 本章小结第44-46页
第六章 总结与展望第46-48页
参考文献第48-54页
作者简介及科研成果第54-55页
致谢第55页

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