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天基电离层探测体系与电离层闪烁预报模型研究

中文摘要第6-8页
ABSTRACT第8-9页
引言第11-14页
第一章 电离层不均匀体及闪烁效应第14-31页
    1.1 背景电离层第14-15页
    1.2 电离层不均匀体结构及其产生机理第15-20页
    1.3 电离层闪烁效应及其影响第20-24页
    1.4 电离层闪烁建模与应用研究现状与趋势第24-30页
    1.5 小结第30-31页
第二章 天基电离层探测体系研究第31-47页
    2.1 天基电离层探测需求分析第31-32页
    2.2 天基电离层探测技术体系分析第32-35页
    2.3 天基电离层探测任务论证方法研究第35-42页
    2.4 天基电离层探测任务分析第42-46页
    2.5 小结第46-47页
第三章 天基电离层载荷测试与数据处理技术研究第47-62页
    3.1 三频信标载荷测试验证技术研究第47-53页
    3.2 基于星载DORIS接收机的电离层探测技术研究第53-57页
    3.3 天基就位探测数据的电离层不均匀体探测技术分析第57-61页
    3.4 小结第61-62页
第四章 电离层闪烁发生概率中长期预报模型及应用研究第62-98页
    4.1 电离层幅度闪烁功率谱分析第62-74页
    4.2 电离层闪烁数据预处理第74-75页
    4.3 中国低纬地区电离层闪烁发生规律统计分析第75-88页
    4.4 中国低纬地区电离层闪烁发生概率预报模型研究第88-96页
    4.5 小结第96-98页
第五章 总结与展望第98-100页
    5.1 本文总结第98-99页
    5.2 未来工作展望第99-100页
参考文献第100-109页
博士期间(2009.09~2015.04)学术论文完成情况第109-111页
致谢第111页

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