A型漏电保护器专用芯片的设计与应用
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 缩略词表 | 第8-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 1 绪论 | 第12-21页 |
| 1.1 A型漏电保护器简介 | 第12-19页 |
| 1.1.1 A型漏电保护器技术的发展历程及现状 | 第12-13页 |
| 1.1.2 A型漏电保护器的相关国家标准分析 | 第13-16页 |
| 1.1.3 A型漏电保护器的基本工作原理 | 第16-18页 |
| 1.1.4 A型漏电保护器芯片的市场现状 | 第18-19页 |
| 1.2 本课题的主要内容 | 第19-21页 |
| 2 ZDAB型漏电保护器专用芯片设计介绍 | 第21-33页 |
| 2.1 A型漏电保护器整机的性能指标 | 第21-27页 |
| 2.2 ZDAB芯片的技术方案 | 第27-30页 |
| 2.3 ZDAB芯片管脚介绍 | 第30-33页 |
| 3 芯片模拟电路部分的优化设计 | 第33-56页 |
| 3.1 带隙基准源电路的设计 | 第33-39页 |
| 3.1.1 带隙基准源电路的原理 | 第33-34页 |
| 3.1.2 带隙基准源电路的电路设计 | 第34-37页 |
| 3.1.3 带隙基准源电路的仿真结果 | 第37-39页 |
| 3.2 比较器电路的设计 | 第39-41页 |
| 3.2.1 比较器电路的原理 | 第39-40页 |
| 3.2.2 比较器电路的仿真结果 | 第40-41页 |
| 3.3 电压偏置电路的设计 | 第41-44页 |
| 3.3.1 电压偏置电路的原理 | 第41-43页 |
| 3.3.2 电压偏置电路的仿真结果 | 第43-44页 |
| 3.4 偏置电流产生电路的设计 | 第44-47页 |
| 3.4.1 偏置电流产生电路的原理及电路图 | 第45-46页 |
| 3.4.2 偏置电流产生电路的仿真结果 | 第46-47页 |
| 3.5 电压缓冲器电路的设计 | 第47-51页 |
| 3.5.1 电压缓冲器电路的原理及电路图 | 第47-49页 |
| 3.5.2 电压缓冲器电路的仿真结果 | 第49-51页 |
| 3.6 振荡器电路的设计 | 第51-53页 |
| 3.6.1 振荡器电路的原理 | 第51-52页 |
| 3.6.2 振荡器电路的仿真结果 | 第52-53页 |
| 3.7 上电复位电路的设计 | 第53-56页 |
| 3.7.1 上电复位电路的原理及电路图 | 第53-54页 |
| 3.7.2 上电复位电路的仿真结果 | 第54-56页 |
| 4 芯片数字电路部分的优化设计 | 第56-60页 |
| 4.1 脉宽调整模块的优化 | 第56-57页 |
| 4.2 信号处理模块的设计 | 第57-60页 |
| 5 芯片的物理实现 | 第60-70页 |
| 5.1 上华0.5um工艺介绍 | 第60-61页 |
| 5.2 芯片版图设计的具体考量 | 第61-66页 |
| 5.3 时钟电路的修调设计 | 第66-67页 |
| 5.4 ZDAB A型漏电保护器专用芯片版图设计 | 第67-70页 |
| 6 芯片应用系统的设计与实现 | 第70-77页 |
| 6.1 芯片应用系统的设计关键 | 第70页 |
| 6.2 ZDAB家用型漏电保护芯片应用系统的设计 | 第70-77页 |
| 6.2.1 芯片供电 | 第71-72页 |
| 6.2.2 漏电检测 | 第72-73页 |
| 6.2.3 过压检测 | 第73-74页 |
| 6.2.4 开关控制 | 第74-77页 |
| 7 芯片及其应用系统的测试 | 第77-86页 |
| 7.1 芯片漏电保护功能测试 | 第77-80页 |
| 7.2 芯片抗干扰能力的测试 | 第80-86页 |
| 7.2.1 测试原理介绍 | 第80-82页 |
| 7.2.2 测试设备的使用 | 第82-83页 |
| 7.2.3 抗干扰能力测试 | 第83-84页 |
| 7.2.4 EMC电磁兼容测试 | 第84-86页 |
| 8 总结与展望 | 第86-87页 |
| 8.1 总结 | 第86页 |
| 8.2 展望 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-89页 |
| 作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第89页 |
