| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第10-32页 |
| 1.1 引言 | 第10-11页 |
| 1.2 BaTiO_3薄膜的基本性质 | 第11-17页 |
| 1.2.1 BaTiO_3薄膜的晶体结构 | 第11-12页 |
| 1.2.2 BaTiO_3薄膜的光电特性 | 第12-14页 |
| 1.2.3 BaTiO_3薄膜的多铁性 | 第14-17页 |
| 1.3 CoFeB薄膜的基本性质 | 第17-18页 |
| 1.4 几种新型的随机储存器件 | 第18-22页 |
| 1.5 电阻开关效应 | 第22-29页 |
| 1.5.1 电阻开关效应的分类 | 第23-24页 |
| 1.5.2 电阻开关效应的电流传导机制 | 第24-26页 |
| 1.5.3 电阻开关效应的机理解释 | 第26-28页 |
| 1.5.4 电阻开关效应研究进展 | 第28-29页 |
| 1.6 本课题的研究意义和内容 | 第29-32页 |
| 第二章 薄膜的制备和表征 | 第32-44页 |
| 2.1 薄膜的制备 | 第32-37页 |
| 2.1.1 分子束外延 | 第32-33页 |
| 2.1.2 激光脉冲沉积 | 第33-34页 |
| 2.1.3 溶胶-凝胶法 | 第34页 |
| 2.1.4 水热合成法 | 第34-35页 |
| 2.1.5 磁控溅射 | 第35-37页 |
| 2.2 薄膜样品的表征 | 第37-44页 |
| 2.2.1 薄膜样品厚度的测量 | 第37-38页 |
| 2.2.2 薄膜样品表面形貌的表征 | 第38-39页 |
| 2.2.3 薄膜样品组分的测定 | 第39-40页 |
| 2.2.4 薄膜样品结构的测定 | 第40-41页 |
| 2.2.5 薄膜样品磁性的测定 | 第41-42页 |
| 2.2.6 薄膜样品电学性质的测定 | 第42-44页 |
| 第三章 BTO/CFB/BTO三层膜电阻开关器件的制备与性能研究 | 第44-56页 |
| 3.1 样品的制备 | 第44-45页 |
| 3.2 样品的表征 | 第45-49页 |
| 3.3 样品电阻开关特性的测量与结果分析 | 第49-56页 |
| 3.3.1 样品电阻开关特性的测量 | 第49-50页 |
| 3.3.2 结果分析与讨论 | 第50-52页 |
| 3.3.3 机理解释 | 第52-56页 |
| 第四章 结论 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-66页 |
| 硕士期间论文发表情况 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68页 |