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基于安全U盘Flash FTL算法的研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第9-12页
    1.1 研究背景及意义第9-10页
    1.2 国内外研究状况第10页
    1.3 本文主要研究内容和组织结构第10-12页
第二章 安全U盘关键技术分析第12-19页
    2.1 安全U盘分析第12-14页
        2.1.1 安全U盘架构第12页
        2.1.2 主控芯片概述第12-13页
        2.1.3 安全性能概述第13-14页
    2.2 闪存芯片介绍第14-18页
        2.2.1 NAND Flash和NOR Flash第14页
        2.2.2 SLC Flash、MLC Flash和TLC Flash第14-15页
        2.2.3 NAND Flash的结构第15-16页
        2.2.4 NAND Flash的基本操作第16-18页
    2.3 本章小结第18-19页
第三章 FTL概述第19-31页
    3.1 FTL功能概述第19-25页
        3.1.1 地址映射第19-21页
        3.1.2 垃圾回收第21-23页
        3.1.3 损耗均衡第23-24页
        3.1.4 写入放大第24页
        3.1.5 掉电恢复第24-25页
        3.1.6 ECC校验第25页
    3.2 现有的FTL算法介绍第25-30页
        3.2.1 BAST算法第25-27页
        3.2.2 FAST算法第27-28页
        3.2.3 HFTL算法第28-29页
        3.2.4 DFTL算法第29-30页
    3.3 本章小结第30-31页
第四章 基于三级映射FTL算法的设计第31-49页
    4.1 三级地址映射架构设计第31-39页
        4.1.1 PMT设计第32-34页
        4.1.2 SIT设计第34-35页
        4.1.3 PIT设计第35页
        4.1.4 CIT设计第35页
        4.1.5 三级寻址流程第35-37页
        4.1.6 优化三级寻址第37-39页
    4.2 块管理系统第39-43页
        4.2.1 EBT的构造第39-40页
        4.2.2 EMBT和ERBT第40页
        4.2.3 坏块管理第40-43页
    4.3 垃圾回收系统第43-46页
        4.3.1 部分合并第43-46页
        4.3.2 全合并第46页
    4.4 掉电恢复系统第46-47页
    4.5 本章小结第47-49页
第五章 系统测试与分析第49-54页
    5.1 硬件测试平台第49-50页
    5.2 性能测试第50-53页
        5.2.1 稳定性测试第50-51页
        5.2.2 可靠性测试第51页
        5.2.3 读写速度测试第51-53页
    5.4 本章小结第53-54页
第六章 总结与展望第54-56页
    6.1 总结第54页
    6.2 展望第54-56页
致谢第56-57页
参考文献第57-60页
附录第60页

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