摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 绪论 | 第9-12页 |
1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究状况 | 第10页 |
1.3 本文主要研究内容和组织结构 | 第10-12页 |
第二章 安全U盘关键技术分析 | 第12-19页 |
2.1 安全U盘分析 | 第12-14页 |
2.1.1 安全U盘架构 | 第12页 |
2.1.2 主控芯片概述 | 第12-13页 |
2.1.3 安全性能概述 | 第13-14页 |
2.2 闪存芯片介绍 | 第14-18页 |
2.2.1 NAND Flash和NOR Flash | 第14页 |
2.2.2 SLC Flash、MLC Flash和TLC Flash | 第14-15页 |
2.2.3 NAND Flash的结构 | 第15-16页 |
2.2.4 NAND Flash的基本操作 | 第16-18页 |
2.3 本章小结 | 第18-19页 |
第三章 FTL概述 | 第19-31页 |
3.1 FTL功能概述 | 第19-25页 |
3.1.1 地址映射 | 第19-21页 |
3.1.2 垃圾回收 | 第21-23页 |
3.1.3 损耗均衡 | 第23-24页 |
3.1.4 写入放大 | 第24页 |
3.1.5 掉电恢复 | 第24-25页 |
3.1.6 ECC校验 | 第25页 |
3.2 现有的FTL算法介绍 | 第25-30页 |
3.2.1 BAST算法 | 第25-27页 |
3.2.2 FAST算法 | 第27-28页 |
3.2.3 HFTL算法 | 第28-29页 |
3.2.4 DFTL算法 | 第29-30页 |
3.3 本章小结 | 第30-31页 |
第四章 基于三级映射FTL算法的设计 | 第31-49页 |
4.1 三级地址映射架构设计 | 第31-39页 |
4.1.1 PMT设计 | 第32-34页 |
4.1.2 SIT设计 | 第34-35页 |
4.1.3 PIT设计 | 第35页 |
4.1.4 CIT设计 | 第35页 |
4.1.5 三级寻址流程 | 第35-37页 |
4.1.6 优化三级寻址 | 第37-39页 |
4.2 块管理系统 | 第39-43页 |
4.2.1 EBT的构造 | 第39-40页 |
4.2.2 EMBT和ERBT | 第40页 |
4.2.3 坏块管理 | 第40-43页 |
4.3 垃圾回收系统 | 第43-46页 |
4.3.1 部分合并 | 第43-46页 |
4.3.2 全合并 | 第46页 |
4.4 掉电恢复系统 | 第46-47页 |
4.5 本章小结 | 第47-49页 |
第五章 系统测试与分析 | 第49-54页 |
5.1 硬件测试平台 | 第49-50页 |
5.2 性能测试 | 第50-53页 |
5.2.1 稳定性测试 | 第50-51页 |
5.2.2 可靠性测试 | 第51页 |
5.2.3 读写速度测试 | 第51-53页 |
5.4 本章小结 | 第53-54页 |
第六章 总结与展望 | 第54-56页 |
6.1 总结 | 第54页 |
6.2 展望 | 第54-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
附录 | 第60页 |