| 致谢 | 第4-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 红外光电成像探测技术概述 | 第12-14页 |
| 1.2 红外焦平面阵列概述 | 第14-25页 |
| 1.2.1 红外探测器的分类及发展 | 第14-16页 |
| 1.2.2 大规模、小像元红外探测器的发展状况 | 第16-19页 |
| 1.2.3 红外焦平面读出电路概述 | 第19-20页 |
| 1.2.4 大规模、小像元中心距的读出电路的发展状况 | 第20-25页 |
| 1.3 本课题研究的意义、难点及目的 | 第25-26页 |
| 1.4 本论文的内容结构 | 第26-28页 |
| 第二章 CMOS读出电路设计基础 | 第28-42页 |
| 2.1 CMOS电路设计基础 | 第28-32页 |
| 2.1.1 MOS器件 | 第28-31页 |
| 2.1.2 无源器件 | 第31-32页 |
| 2.2 读出电路的性能参数和结构 | 第32-37页 |
| 2.2.1 读出电路的性能参数 | 第32-34页 |
| 2.2.2 读出电路的常用输入级结构 | 第34-37页 |
| 2.3 读出电路的噪声及低温特性 | 第37-41页 |
| 2.3.1 读出电路的噪声特性 | 第37-40页 |
| 2.3.2 读出电路的低温特性 | 第40-41页 |
| 2.4 读出电路的设计流程 | 第41页 |
| 2.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 第三章 共享型640×512红外焦平面读出电路的设计研究 | 第42-70页 |
| 3.1 读出电路的整体框架 | 第42-44页 |
| 3.2 单元电路的设计 | 第44-51页 |
| 3.2.1 单元电路方案的选择 | 第44-48页 |
| 3.2.2 时序设计安排 | 第48-51页 |
| 3.3 列级缓冲电路及偏置电路的设计 | 第51-59页 |
| 3.3.1 列级缓冲电路 | 第51-55页 |
| 3.3.2 偏置电路 | 第55-57页 |
| 3.3.3 前仿真结果 | 第57-59页 |
| 3.4 输出缓冲器的设计 | 第59-63页 |
| 3.5 数字模块的设计 | 第63-64页 |
| 3.6 静电保护ESD结构设计 | 第64-65页 |
| 3.7 全电路设计与仿真 | 第65-69页 |
| 3.8 本章小结 | 第69-70页 |
| 第四章 共享型640×512 IRFPAs ROIC的版图设计与后仿 | 第70-84页 |
| 4.1 版图设计的基本知识及流程 | 第70-71页 |
| 4.2 读出电路版图设计 | 第71-78页 |
| 4.2.1 单元电路版图设计 | 第71-73页 |
| 4.2.2 列级缓冲电路版图设计 | 第73页 |
| 4.2.3 偏置电路版图设计 | 第73-74页 |
| 4.2.4 输出缓冲器版图设计 | 第74-75页 |
| 4.2.5 移位寄存器的版图设计 | 第75页 |
| 4.2.6 ESD版图设计 | 第75-76页 |
| 4.2.7 全电路版图设计 | 第76-78页 |
| 4.3 读出电路后仿 | 第78-83页 |
| 4.3.1 输出缓冲器的后仿 | 第78-79页 |
| 4.3.2 整体版图的电路后仿 | 第79-83页 |
| 4.4 本章小结 | 第83-84页 |
| 第五章 共享型640×512 IRFPAs ROIC的测试与分析 | 第84-105页 |
| 5.1 测试方案 | 第84-85页 |
| 5.1.1 工作模式 | 第84-85页 |
| 5.1.2 测试内容 | 第85页 |
| 5.2 640×512电路I/O端口说明 | 第85-87页 |
| 5.3 芯片的常温测试 | 第87-96页 |
| 5.3.1 晶圆测试 | 第88-90页 |
| 5.3.2 未与探测器互连的芯片的常温测试 | 第90-93页 |
| 5.3.3 与探测器互连的芯片的常温测试 | 第93-96页 |
| 5.4 芯片的低温测试 | 第96-104页 |
| 5.4.1 未与探测器互连的芯片的低温测试 | 第96-97页 |
| 5.4.2 与探测器互连的芯片的低温测试 | 第97-99页 |
| 5.4.3 焦平面阵列的测试结果分析 | 第99-104页 |
| 5.5 本章小结 | 第104-105页 |
| 第六章 640×512快照式短波红外读出电路设计与实现 | 第105-124页 |
| 6.1 整体框架设计 | 第105-106页 |
| 6.2 读出模块设计与仿真 | 第106-114页 |
| 6.2.1 CTIA输入级结构设计 | 第107-109页 |
| 6.2.2 偏置电路设计 | 第109-111页 |
| 6.2.3 列级缓冲电路及输出缓冲器 | 第111-114页 |
| 6.3 版图设计 | 第114-116页 |
| 6.4 测试分析 | 第116-120页 |
| 6.4.1 电路的常温与低温测试 | 第116-118页 |
| 6.4.2 焦平面阵列测试分析 | 第118-120页 |
| 6.5 15μm中心距用于短波红外的读出电路的设计讨论 | 第120-123页 |
| 6.6 本章小结 | 第123-124页 |
| 第七章 总结与展望 | 第124-127页 |
| 7.1 全文总结 | 第124-126页 |
| 7.2 未来工作展望 | 第126-127页 |
| 参考文献 | 第127-132页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第132页 |
