| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第19-35页 |
| 1.1 标准模型 | 第19-21页 |
| 1.1.1 基本粒子分类 | 第19-20页 |
| 1.1.2 弱电统一理论和量子色动力学理论 | 第20-21页 |
| 1.2 轻强子物理 | 第21-24页 |
| 1.2.1 普通强子态 | 第21-22页 |
| 1.2.2 新型强子态 | 第22-24页 |
| 1.3 粲偶素家族 | 第24-29页 |
| 1.3.1 J/φ衰变 | 第24-27页 |
| 1.3.2 φ'衰变 | 第27-28页 |
| 1.3.3 φ"衰变 | 第28-29页 |
| 1.4 论文选题和论文结构 | 第29-35页 |
| 1.4.1 研究背景 | 第29-30页 |
| 1.4.2 论文选题的目的和意义 | 第30-33页 |
| 1.4.3 论文结构 | 第33-35页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机和北京谱仪 | 第35-57页 |
| 2.1 北京正负电子对撞机-Ⅱ (BEPC-Ⅱ) | 第35-36页 |
| 2.2 北京谱仪-Ⅲ(BES-Ⅲ) | 第36-45页 |
| 2.2.1 束流管 | 第37页 |
| 2.2.2 主漂移室(MDC) | 第37-40页 |
| 2.2.3 飞行时间计数器(TOF) | 第40-41页 |
| 2.2.4 电磁量能器(EMC) | 第41-42页 |
| 2.2.5 μ子鉴别器(μID) | 第42页 |
| 2.2.6 超导磁体 | 第42-43页 |
| 2.2.7 触发判选系统(Trigger System) | 第43-44页 |
| 2.2.8 电子学系统 | 第44页 |
| 2.2.9 在线数据获取系统(DAQ) | 第44-45页 |
| 2.3 BES-Ⅲ离线软件系统 | 第45-49页 |
| 2.3.1 BES-Ⅲ离线数据框架(BOSS) | 第45-46页 |
| 2.3.2 BES-Ⅲ探测器模拟系统(BOOST) | 第46-47页 |
| 2.3.3 BES-Ⅲ离线刻度系统 | 第47-48页 |
| 2.3.4 BES-Ⅲ离线重建系统 | 第48页 |
| 2.3.5 BES-Ⅲ的产生子 | 第48-49页 |
| 2.4 BES-Ⅲ物理分析算法软件工具 | 第49-54页 |
| 2.4.1 粒子鉴别 | 第49-54页 |
| 2.4.2 运动学拟合 | 第54页 |
| 2.5 本章小结 | 第54-57页 |
| 第三章 e~+e~-(@3.773 GeV)→K~+K~-π~0的事例选择和本底分析 | 第57-63页 |
| 3.1 事例选择 | 第57-60页 |
| 3.1.1 径迹级别事例选择条件 | 第57-58页 |
| 3.1.2 事例初选 | 第58页 |
| 3.1.3 事例终选 | 第58-60页 |
| 3.2 本底分析 | 第60-62页 |
| 3.3 本章小结 | 第62-63页 |
| 第四章 分波分析方法简介 | 第63-71页 |
| 4.1 基本思路 | 第63页 |
| 4.2 衰变振幅和微分截面 | 第63-67页 |
| 4.2.1 φ非辐射衰变的衰变振幅和微分截面的构造 | 第64-65页 |
| 4.2.2 分波振幅U_i~μ | 第65-67页 |
| 4.3 构造似然函数 | 第67页 |
| 4.4 由蒙特卡洛积分(Monte-Carol,MC)计算总截面 | 第67-68页 |
| 4.5 本底处理 | 第68-69页 |
| 4.6 分波分析流程 | 第69-70页 |
| 4.7 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 e~+e~-(@3.773 GeV)→K~+K~-π~0的分波分析 | 第71-99页 |
| 5.1 利用PDG共振态描述数据 | 第71-72页 |
| 5.2 分波解 | 第72-83页 |
| 5.2.1 分波解A | 第72页 |
| 5.2.2 分波解B | 第72-83页 |
| 5.3 对分波解的检查 | 第83-87页 |
| 5.3.1 加入其它共振态的检查 | 第83页 |
| 5.3.2 额外共振态扫描 | 第83-87页 |
| 5.4 玻恩截面的测量 | 第87页 |
| 5.5 系统误差来源及影响 | 第87-93页 |
| 5.5.1 S~(1/2)=3.773 GeV处的亮度 | 第87-89页 |
| 5.5.2 带电径迹的重建效率 | 第89页 |
| 5.5.3 粒子鉴别 | 第89页 |
| 5.5.4 光子探测效率 | 第89页 |
| 5.5.5 运动学拟合 | 第89页 |
| 5.5.6 中间过程衰变分支比 | 第89-90页 |
| 5.5.7 π~0质量窗 | 第90页 |
| 5.5.8 分波分析方法带来的系统误差(分波解A) | 第90-91页 |
| 5.5.9 分波分析方法带来的系统误差(分波解B) | 第91-93页 |
| 5.5.10 系统误差总结 | 第93页 |
| 5.6 本章小结 | 第93-99页 |
| 第六章 J/φ→γη'π~+π~-过程中X(1835)的模型研究 | 第99-105页 |
| 6.1 研究思路 | 第99页 |
| 6.2 拟合函数的构成 | 第99页 |
| 6.3 两种描述X(1835)的方式 | 第99-100页 |
| 6.4 联合拟合方法(Simultaneous Fit) | 第100-101页 |
| 6.5 赝数据为一倍于2012 J/φ数据统计量时的拟合结果 | 第101-102页 |
| 6.6 赝数据为十倍2012J/φ数据统计量时的拟合结果 | 第102页 |
| 6.7 结论 | 第102-103页 |
| 6.8 本章小结 | 第103-105页 |
| 第七章 总结与讨论 | 第105-107页 |
| 附录A 统计学方法 | 第107-109页 |
| A.1 参数及其方差的最大似然估计量 | 第107-108页 |
| A.2 参数的显著性检验 | 第108-109页 |
| 参考文献 | 第109-113页 |
| 致谢 | 第113页 |
