多层微波电介质材料无损测试技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10页 |
| 1.2 材料复介电常数测试方法 | 第10-14页 |
| 1.2.1 网络参数法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 谐振法 | 第12-14页 |
| 1.3 发展研究动态 | 第14-15页 |
| 1.4 主要研究内容及行文安排 | 第15-16页 |
| 第二章 同轴开放式谐振腔测试原理 | 第16-37页 |
| 2.1 谐振参数 | 第16-18页 |
| 2.1.1 谐振频率 | 第17页 |
| 2.1.2 谐振腔的品质因数 | 第17-18页 |
| 2.2 同轴线TEM波的传输特性 | 第18-20页 |
| 2.3 基于等效电路电磁参数提取 | 第20-30页 |
| 2.3.1 同轴开放式谐振腔的等效电路 | 第20-23页 |
| 2.3.2 单层材料测试原理 | 第23-25页 |
| 2.3.3 多层材料测试原理 | 第25-30页 |
| 2.4 基于支持向量机参数提取原理 | 第30-36页 |
| 2.4.1 线性支持向量回归机 | 第31-33页 |
| 2.4.2 非线性支持向量回归机 | 第33-34页 |
| 2.4.3 电磁参数提取原理 | 第34-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 测试谐振腔的研制 | 第37-46页 |
| 3.1 同轴开放式谐振腔的设计 | 第37-41页 |
| 3.1.1 腔体设计原则 | 第37-39页 |
| 3.1.2 耦合装置的设计 | 第39-41页 |
| 3.1.3 模式净化结构改进 | 第41页 |
| 3.2 腔体总体仿真 | 第41-44页 |
| 3.3 测试腔体的制备 | 第44-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 测试系统的集成和校准 | 第46-64页 |
| 4.1 同轴开放式测试系统设计与组装 | 第47-52页 |
| 4.1.1 测试腔体的设计与组装 | 第47-48页 |
| 4.1.2 耦合装置的组装 | 第48-49页 |
| 4.1.3 腔体封装设计 | 第49-51页 |
| 4.1.4 简易测试支撑平台 | 第51页 |
| 4.1.5 样品移动装置 | 第51-52页 |
| 4.2 测试系统组装调试 | 第52-58页 |
| 4.3 辅助测试软件 | 第58-60页 |
| 4.4 测试系统的校准 | 第60-63页 |
| 4.4.1 单层算法的校准 | 第60-61页 |
| 4.4.2 双层算法的校准 | 第61-62页 |
| 4.4.3 三层算法的校准 | 第62-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 测试结果及误差分析 | 第64-79页 |
| 5.1 测试样品的制作 | 第64-65页 |
| 5.2 等效电路法测试流程 | 第65-69页 |
| 5.2.1 单层材料测试步骤与结果 | 第65-66页 |
| 5.2.2 双层材料测试步骤与结果 | 第66-68页 |
| 5.2.3 三层材料测试步骤与结果 | 第68-69页 |
| 5.3 支持向量机测试流程 | 第69-77页 |
| 5.3.1 单层材料测试步骤与结果 | 第69-71页 |
| 5.3.2 双层材料测试步骤与结果 | 第71-74页 |
| 5.3.3 三层材料测试步骤与结果 | 第74-77页 |
| 5.4 误差分析 | 第77-78页 |
| 5.5 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 6.1 研究内容与成果 | 第79-80页 |
| 6.2 不足与改进 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-85页 |
| 硕士期间取得的研究成果 | 第85-86页 |
