数字化裂变室宽量程中子通量密度测量的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·中子通量密度测量介绍 | 第10-11页 |
| ·数字化中子通量密度测量的研究意义 | 第11-12页 |
| ·中子通量密度测量研究国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·中子通量密度测量研究前景 | 第13页 |
| ·本文研究内容及章节安排 | 第13-16页 |
| 第二章 裂变室概述 | 第16-24页 |
| ·裂变室测量中子原理 | 第16-19页 |
| ·裂变室的工作模式 | 第19-24页 |
| ·脉冲模式 | 第19-20页 |
| ·坎贝尔模式 | 第20-22页 |
| ·电流模式 | 第22-24页 |
| 第三章 裂变室输出信号的仿真研究 | 第24-40页 |
| ·裂变室输出信号的仿真研究 | 第24-29页 |
| ·裂变室输出信号波形的数学描述 | 第24-25页 |
| ·裂变室输出信号的统计特性 | 第25-28页 |
| ·运用坎贝尔定理验证仿真波形 | 第28-29页 |
| ·裂变室输出信号仿真和处理方法 | 第29-38页 |
| ·裂变室输出信号的数字化处理方法 | 第29-33页 |
| ·数字信号处理结果与分析 | 第33-38页 |
| ·小结 | 第38-40页 |
| 第四章 数字化高速数据采集和信号处理板卡的设计 | 第40-58页 |
| ·硬件方案的设计 | 第40-51页 |
| ·高速 ADC 的选型和电路设计 | 第41-45页 |
| ·FPGA 的选型与配置 | 第45-48页 |
| ·PCB 设计 | 第48-51页 |
| ·FPGA 数字化信号处理测试 | 第51-57页 |
| ·FPGA 数字信号处理 | 第51-55页 |
| ·测试与分析 | 第55-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 发表文章情况 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
