| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-40页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·聚噻吩及其衍生物的简介 | 第11-23页 |
| ·聚噻吩及其衍生物的结构 | 第11页 |
| ·聚噻吩及其衍生物的性质及应用 | 第11-23页 |
| ·聚(3-烷基噻吩)微结构的研究 | 第23-32页 |
| ·聚(3-烷基噻吩)多晶型的简介 | 第23-29页 |
| ·聚(3-烷基噻吩)薄膜的取向及形态调控 | 第29-32页 |
| ·聚(3-烷基噻吩)自组装纳米晶体形态的简介 | 第32-37页 |
| ·聚(3-烷基噻吩)纳米晶的概述 | 第32-34页 |
| ·聚(3-烷基噻吩)纳米线微结构的研究 | 第34-37页 |
| ·课题的目的和新颖之处 | 第37-40页 |
| ·本课题的目的 | 第37-38页 |
| ·本课题的新颖之处 | 第38-40页 |
| 第二章 流动场下聚(3-丁基噻吩)纳米线的研究 | 第40-62页 |
| ·引言 | 第40-41页 |
| ·实验部分 | 第41-43页 |
| ·实验原料及设备 | 第41-42页 |
| ·样品制备过程 | 第42-43页 |
| ·表征手段 | 第43-45页 |
| ·不同浓度的 P3BT 纳米线溶液的光学照片 | 第43页 |
| ·透射电子显微镜(TEM)的表征 | 第43-44页 |
| ·原子力显微镜(AFM)的表征 | 第44页 |
| ·傅里叶变换红外光谱(FTIR)的测试 | 第44页 |
| ·紫外-可见光光谱(UV)测试 | 第44页 |
| ·WAXD 常温及原位变温的测试 | 第44-45页 |
| ·FET 器件的制作及电性能的测试 | 第45页 |
| ·结果与讨论 | 第45-60页 |
| ·低转速下溶液浓度对聚(3-丁基噻吩)纳米线的影响 | 第45-56页 |
| ·转速对聚(3-丁基噻吩)纳米线的影响 | 第56-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第三章 聚(3-丁基噻吩)良溶剂体系低温老化的研究 | 第62-88页 |
| ·引言 | 第62页 |
| ·实验部分 | 第62-65页 |
| ·实验原料及设备 | 第62-64页 |
| ·样品制备过程 | 第64-65页 |
| ·表征手段 | 第65-66页 |
| ·透射电子显微镜(TEM)的表征 | 第65页 |
| ·原子力显微镜(AFM)的表征 | 第65页 |
| ·傅里叶变换红外光谱(FTIR)的测试 | 第65页 |
| ·WAXD 常温及原位变温的测试 | 第65-66页 |
| ·结果与讨论 | 第66-86页 |
| ·P3BT/CS_2低温老化溶液的形貌结果 | 第66页 |
| ·P3BT/CS_2低温老化的溶液在室温放置过程中的形貌演变 | 第66-68页 |
| ·低温老化溶液共沉淀得到的 P3BT 薄膜的 XRD 结果 | 第68-69页 |
| ·低温老化溶液共沉淀得到的 P3BT 薄膜的 FTIR 光谱 | 第69-70页 |
| ·低温老化溶液共沉淀得到的 P3BT 薄膜的变温 WAXD 结果 | 第70-76页 |
| ·低温老化共沉淀得到的 P3BT 薄膜的变温 FTIR 结果 | 第76-84页 |
| ·P3BT 捆束状形貌在升温过程中的演变 | 第84-85页 |
| ·P3BT 的 Form II - Form I 相变的模型解释 | 第85-86页 |
| ·本章小结 | 第86-88页 |
| 全文总结 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第97-98页 |
