| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 1 绪论 | 第13-25页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·低温共烧陶瓷技术 | 第13-17页 |
| ·低温共烧陶瓷技术的产生及特点 | 第13-14页 |
| ·LTCC技术的工艺流程 | 第14-15页 |
| ·低温共烧陶瓷的特性 | 第15-16页 |
| ·LTCC技术存在的问题 | 第16-17页 |
| ·多层陶瓷坯片的叠层工艺及其发展 | 第17-19页 |
| ·多层陶瓷坯片的共烧 | 第19-22页 |
| ·堇青石陶瓷材料 | 第22-23页 |
| ·堇青石特点及性质 | 第22页 |
| ·堇青石陶瓷的制备及研究现状 | 第22-23页 |
| ·本课题的立题依据和主要研究内容 | 第23-25页 |
| 2 实验过程和测试方法 | 第25-31页 |
| ·实验原料 | 第25页 |
| ·实验设备 | 第25-26页 |
| ·样品制备及工艺流程 | 第26-29页 |
| ·溶胶-凝胶法制备堇青石低温烧结陶瓷粉体的工艺流程 | 第26-27页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的制备及性能测试 | 第27-28页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的叠层及其与Ag-Pd导电金属的共烧 | 第28-29页 |
| ·表征与测试 | 第29-31页 |
| ·激光粒度分析 | 第29页 |
| ·差热-热重分析 | 第29页 |
| ·X-射线衍射分析(XRD) | 第29页 |
| ·体积密度测试 | 第29-30页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的收缩率测试 | 第30页 |
| ·介电性能分析 | 第30页 |
| ·扫描电镜(SEM) | 第30页 |
| ·能谱分析(EDS) | 第30页 |
| ·叠层压力测试 | 第30-31页 |
| 3 低温烧结堇青石陶瓷坯片的制备及性能分析 | 第31-39页 |
| ·引言 | 第31页 |
| ·实验过程 | 第31-32页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的表面形貌 | 第32-33页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的析晶性能 | 第33-34页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的烧结性能 | 第34-36页 |
| ·堇青石陶瓷坯片的介电性能 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 4 堇青石多层陶瓷坯片的叠层 | 第39-55页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·粘合法叠层 | 第39-45页 |
| ·实验过程 | 第39-40页 |
| ·粘合剂浓度对叠层的影响 | 第40-41页 |
| ·压力对叠层的影响 | 第41-42页 |
| ·粘合法叠层中烧结温度对堇青石陶瓷坯片连结的影响 | 第42-43页 |
| ·粘合法叠层参数的优化 | 第43-44页 |
| ·PVA粘合法叠层的优缺点 | 第44页 |
| ·粘合法叠层机理探讨 | 第44-45页 |
| ·冷压法叠层 | 第45-53页 |
| ·实验过程 | 第45-46页 |
| ·压力对叠层的影响 | 第46-47页 |
| ·坯片层数对叠层的影响 | 第47-48页 |
| ·保压时间对叠层的影响 | 第48-49页 |
| ·烧结温度对堇青石陶瓷坯片连结的影响 | 第49-50页 |
| ·冷压法叠层参数的优化 | 第50-51页 |
| ·冷压法叠层的优缺点 | 第51页 |
| ·冷压法叠层机理探讨 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 5 堇青石多层陶瓷坯片的共烧 | 第55-61页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·实验过程 | 第55-56页 |
| ·冷压法叠层中温度对表面被Ag-Pd堇青石陶瓷坯片的影响 | 第56-57页 |
| ·多层被Ag-Pd堇青石陶瓷坯片的叠层共烧行为 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-61页 |
| 6 叠层和共烧过程中缺陷的解决方案 | 第61-69页 |
| ·引言 | 第61页 |
| ·叠层和共烧过程产生的缺陷 | 第61-63页 |
| ·方案设计 | 第63-64页 |
| ·实验过程 | 第64-65页 |
| ·结果分析 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 7 结论 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-81页 |
| 在学期间研究成果 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
