亚百纳米超分辨光学显微成像新方法与技术的研究
致谢 | 第4-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
1.1 光学显微技术的发展 | 第9-10页 |
1.2 超分辨光学显微术的兴起 | 第10-11页 |
1.3 本论文研究内容 | 第11页 |
1.4 本章小结 | 第11-13页 |
2 基于PSF工程的超分辨显微新方法 | 第13-19页 |
2.1 PSF工程原理 | 第13-16页 |
2.1.1 光学显微成像原理 | 第13-15页 |
2.1.2 PSF工程原理 | 第15-16页 |
2.2 PSF工程各技术概况 | 第16-17页 |
2.2.1 激发PSF工程 | 第16页 |
2.2.2 探测PSF工程 | 第16-17页 |
2.2.3 小孔工程 | 第17页 |
2.3 实验对比图 | 第17-18页 |
2.4 本章小结 | 第18-19页 |
3 CW-STED差分显微术 | 第19-28页 |
3.1 理论分析 | 第19-20页 |
3.2 系统装置 | 第20-21页 |
3.3 仿真 | 第21-23页 |
3.3.1 PSF分析 | 第21页 |
3.3.2 OTF分析 | 第21-22页 |
3.3.3 两个颗粒的仿真 | 第22-23页 |
3.4 实验结果 | 第23-25页 |
3.4.1 荧光颗粒 | 第23-24页 |
3.4.2 细胞微管 | 第24-25页 |
3.5 实验结果讨论 | 第25-27页 |
3.5.1 差分系数的讨论 | 第25-26页 |
3.5.2 同一区域不同差分系数的讨论 | 第26页 |
3.5.3 不同区域不同差分系数的讨论 | 第26-27页 |
3.6 本章小结 | 第27-28页 |
4 移频超分辨显微成像机理 | 第28-34页 |
4.1 光学显微成像的傅里叶分析 | 第28-29页 |
4.2 相干成像系统下的移频技术 | 第29-31页 |
4.2.1 原理 | 第29-30页 |
4.2.2 典型技术 | 第30-31页 |
4.3 非相干成像系统下的移频技术 | 第31-33页 |
4.3.1 原理 | 第31页 |
4.3.2 典型技术 | 第31-33页 |
4.4 本章小结 | 第33-34页 |
5 饱和光斑照明的傅域层叠显微术 | 第34-43页 |
5.1 原理 | 第34-36页 |
5.2 仿真结果 | 第36-41页 |
5.2.1 分辨率 | 第36-38页 |
5.2.2 抗噪力 | 第38-39页 |
5.2.3 相差矫正能力 | 第39-40页 |
5.2.4 光斑的可替代性 | 第40-41页 |
5.3 本章小结 | 第41-43页 |
6 总结与展望 | 第43-45页 |
6.1 总结 | 第43-44页 |
6.2 展望 | 第44-45页 |
参考文献 | 第45-50页 |
作者简历 | 第50-52页 |