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基于Si-SOI键合的微电容超声波换能器设计

摘要第1-6页
Abstract第6-11页
1.绪论第11-22页
   ·选题背景及意义第11-14页
   ·国内外研究现状及发展动态第14-19页
     ·国外研究现状第14-18页
     ·国内研究现状第18-19页
   ·本文主要研究内容第19-22页
2.微电容超声波换能器的理论分析第22-39页
   ·结构及原理第22-23页
   ·薄板振动理论及谐振频率第23-27页
     ·均布载荷下薄膜变形第23-25页
     ·静电力下薄膜位移第25-26页
     ·谐振频率第26-27页
   ·CMUT 平行板电容模型第27-33页
     ·塌陷电压第28-29页
     ·带宽第29-30页
     ·最大发射声压第30-31页
     ·接收灵敏度第31-33页
   ·CMUT 等效电路模型第33-38页
     ·薄膜机械阻抗第34-35页
     ·静态电容第35-36页
     ·转换系数第36-37页
     ·弹簧软化电容第37页
     ·寄生电容第37-38页
   ·本章小结第38-39页
3.微电容超声波换能器的设计与仿真第39-56页
   ·结构尺寸的设定第39-42页
     ·结构尺寸与频率的关系第39-40页
     ·结构尺寸与薄膜振动最大位移关系第40-41页
     ·结构尺寸对塌陷电压的影响第41-42页
     ·结构尺寸与转换系数的关系第42页
   ·有限元仿真第42-52页
     ·有限元简介第42-43页
     ·单一场有限元仿真第43-47页
     ·静电-机械耦合场仿真第47-52页
   ·MATLAB/SIMULINK 接收发射性能仿真第52-55页
   ·本章小结第55-56页
4.微电容超声波换能器的加工第56-71页
   ·器件的加工流程和版图设计第56-61页
     ·加工流程第56-59页
     ·版图设计第59-61页
   ·关键工艺研究第61-69页
     ·光刻工艺第61-63页
     ·热氧化第63-65页
     ·Si-SOI 低温直接键合实验研究第65-68页
     ·Si 及 SiO_2的腐蚀第68-69页
     ·金属化第69页
   ·本章小结第69-71页
5.微电容超声波换能器的初步测试第71-80页
   ·芯片形貌测试第71-73页
   ·残余应力测试第73-75页
   ·谐振频率及发射性能测试第75-77页
     ·谐振频率测试第75-76页
     ·发射性能测试第76-77页
   ·阵元一致性测试第77-79页
     ·谐振频率—致性测试第78页
     ·电容一致性测试第78-79页
   ·本章总结第79-80页
6.总结与展望第80-82页
参考文献第82-87页
攻读硕士期间主要研究工作及所取得的研究成果第87-88页
致谢第88-89页

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