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X射线探测器响应机制及应用建模技术

摘要第1-7页
Abstract第7-14页
第1章 引言第14-31页
   ·能量色散X荧光分析技术概述第15-17页
   ·EDXRF中的探测器响应函数建模技术第17-22页
   ·EDXRF中的定量分析技术第22-26页
   ·课题来源和主要研究内容第26-28页
   ·主要研究成果和创新点第28-31页
第2章 能量色散X荧光物理学基础与实验第31-48页
   ·基本原理第31-34页
     ·元素特征 X 射线第31-33页
     ·特征 X 射线能量第33-34页
   ·物理参数第34-41页
     ·荧光产额第34-36页
     ·吸收限跃迁因子第36页
     ·谱线分数和跃迁几率第36-40页
     ·质量吸收系数第40-41页
   ·EDXRF探测系统与X射线能谱第41-48页
     ·Si 半导体探测器第41-42页
     ·探测装置几何布局第42-43页
     ·样品的 X 射线能谱第43-45页
     ·多元素线性能量刻度第45-48页
第3章 X射线全能峰标准差统计计算方法第48-65页
   ·X射线全能峰分布特征第48-50页
     ·X 射线能量的分布函数第48-49页
     ·半高宽与全能峰标准差第49-50页
   ·全能峰标准差的离散化统计计算方法第50-56页
     ·全能峰标准差的物理意义第50-51页
     ·离散化统计计算方法第51-52页
     ·全能峰主成分统计学解谱方法初探第52-56页
   ·EDXRF中元素特征X射线全能峰标准差的计算第56-59页
   ·全能峰标准差及其在能谱高斯峰拟合中的应用第59-64页
   ·小结第64-65页
第4章 探测器响应函数建模技术研究与应用第65-92页
   ·几种探测器响应函数模型第65-71页
     ·HYPERMET 函数模型第65-66页
     ·NCSU 的函数模型第66-68页
     ·Scholze 函数模型第68-70页
     ·探测器响应函数模型综合比较第70-71页
   ·探测器响应函数模型的建立第71-81页
     ·X 射线探测物理过程分析第71-72页
     ·探测器响应函数的组成第72-77页
     ·非线性加权最小二乘拟合方法第77-79页
     ·拟合优度评价因子第79-80页
     ·纯元素 X 射线能谱的拟合第80-81页
   ·DRF模型在基本参数法中的应用第81-88页
     ·基本参数法原理第82-86页
     ·DRF 模型在多元素样品分析中的应用第86-88页
   ·小结第88-90页
 附表第90-92页
第5章 全谱定量分析方法研究与应用第92-106页
   ·研究依据第92-95页
     ·权重最小二乘法第92-94页
     ·谱库最小二乘法第94-95页
   ·全谱定量分析方法第95-99页
     ·几点考虑第95-96页
     ·全谱定量分析方法原理第96-97页
     ·计算程序流程图第97-99页
   ·全谱定量分析方法的应用第99-101页
   ·小结第101-102页
 附图表第102-106页
第6章 DRF模型和全谱定量分析方法的应用第106-116页
   ·DRF建模理论在α粒子能谱分析中的应用第106-109页
     ·α粒子能谱测量实验第106-107页
     ·半经验探测器响应函数第107-108页
     ·对α粒子能谱的拟合第108-109页
   ·DRF模型在Monte Carlo模拟注量展宽中的应用第109-113页
     ·应用背景和意义简述第109-110页
     ·Monte Carlo 模拟 X 射线探测第110-111页
     ·对蒙特卡罗模拟注量谱的展宽第111-113页
   ·全谱定量分析方法在Fast SDD测量轻元素中的应用第113-115页
   ·小结第115-116页
结论第116-119页
致谢第119-121页
参考文献第121-131页
攻读学位期间取得学术成果第131-133页
附录A 元素特征X射线能量(eV)第133-138页
附录B 吸收限能量( eV)第138-143页
附录C 元素K、L、M能级荧光产额第143-146页
附录D 吸收限跃迁因子J第146-148页
附录E 元素K系和L系X射线辐射跃迁几率第148-152页
附录F 利用公式 CE n CE (12.3981/ E )n 21ab ab[c m g ]计算质量吸收系数时用到的参数第152-160页
附录G Z=1-92元素对50-30000eV能量范围内X射线的质量吸收系数第160-163页

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