| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·研究背景 | 第11页 |
| ·研究现状 | 第11-13页 |
| ·闪存存储器的发展 | 第11-12页 |
| ·半导体闪存测试的发展和现状 | 第12-13页 |
| ·现有闪存存储器的测试设备特点 | 第13页 |
| ·课题研究的意义 | 第13-14页 |
| ·本文组织结构和主要贡献 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 MMC 测试平台技术现状和需求分析 | 第15-18页 |
| ·MMC 现有测试验证平台的现状分析 | 第15-17页 |
| ·大型芯片测试机的现状分析 | 第15-16页 |
| ·MMC 专用测试仪器的分析 | 第16-17页 |
| ·MMC 测试验证平台的需求分析 | 第17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 第三章 MMC 验证测试平台的总体设计 | 第18-22页 |
| ·MMC 测试验证平台的设计目标 | 第18页 |
| ·MMC 验证测试平台的硬件平台方案设计原则 | 第18-20页 |
| ·硬件接口方案分析和选定 | 第18-19页 |
| ·硬件主系统平台方案分析和选定 | 第19-20页 |
| ·MMC 验证测试平台的软件平台方案设计原则 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第四章 MMC 验证测试平台的硬件设计 | 第22-27页 |
| ·MMC 验证测试平台的硬件主平台的框架设计 | 第22页 |
| ·MMC 验证测试平台的主平台硬件和通信数据交换设计 | 第22-24页 |
| ·系统核心板存储资源分析 | 第23-24页 |
| ·系统核心板通信资源分析 | 第24页 |
| ·MMC 验证测试平台的硬件接口转换电路的设计 | 第24-25页 |
| ·MMC 验证测试平台的测试电源控制电路模块的设计 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第五章 MMC 验证测试平台的软件设计 | 第27-39页 |
| ·MMC 验证测试平台的软件总体架构 | 第27-28页 |
| ·MMC 验证测试平台的内核字符设备模块设计 | 第28-30页 |
| ·MMC 验证测试平台的用户应用程序模块设计 | 第30-32页 |
| ·MMC 验证测试平台的测试向量模块设计 | 第32-37页 |
| ·Boot 模式测试模块 | 第33-34页 |
| ·Card Identification 模式测试模块 | 第34-35页 |
| ·数据传输模式测试模块 | 第35-37页 |
| ·MMC 验证测试平台的文件系统测试模块移植设计 | 第37-38页 |
| ·Iozone 工具测试模块 | 第37页 |
| ·Iometer 工具测试模块 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第六章 MMC 验证测试平台的测试结果及分析 | 第39-51页 |
| ·MMC 验证测试平台的功能测试 | 第39-40页 |
| ·MMC 验证测试平台的命令字读写性能测试 | 第40-43页 |
| ·MMC 验证测试平台与 Advan 平台的测试对比 | 第43-45页 |
| ·与 Advan 平台的功能测试对比 | 第43页 |
| ·与 Advan 平台的性能测试对比 | 第43-45页 |
| ·MMC 验证测试平台的 Iometer 读写性能测试 | 第45-47页 |
| ·MMC 验证测试平台的 Iozone 读写性能测试 | 第47-49页 |
| ·MMC 验证平台芯片测试开销比较 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第七章 总结与展望 | 第51-52页 |
| ·主要工作与创新点 | 第51页 |
| ·后续研究工作 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 攻读硕士期间发表的学术论文 | 第55页 |
