| 中文摘要 | 第1-15页 |
| ABSTRACT | 第15-19页 |
| 第一章 绪论 | 第19-36页 |
| ·概述 | 第19-20页 |
| ·本课题的研究背景 | 第20-22页 |
| ·DNA空穴迁移的研究进展 | 第22-24页 |
| ·计算方法 | 第24-25页 |
| ·本论文开展的主要工作 | 第25-27页 |
| 参考文献 | 第27-36页 |
| 第二章 三螺旋DNA空穴迁移中亚稳氢键负解离能现象的发现 | 第36-74页 |
| ·研究背景 | 第36-39页 |
| ·计算细节 | 第39页 |
| ·结果和讨论 | 第39-61页 |
| ·俘获空穴后三螺旋Cp·G(?)C中负解离能现象的发现 | 第39-43页 |
| ·空穴俘获后三螺旋Cp·G(?)C和T·A(?)T几何构型的变化 | 第43-44页 |
| ·三螺旋[C_p·G(?)C]~+的自旋密度 | 第44页 |
| ·三螺旋C_p·G(?)C和T·A(?)T中氢键能量分解以及AIM分析 | 第44-46页 |
| ·俘获空穴之后三螺旋Cp·G(?)C的静电势图 | 第46-48页 |
| ·负解离能曲线的本质 | 第48-50页 |
| ·质子转移对负解离能的影响 | 第50-53页 |
| ·堆积效应对负解离能现象的影响 | 第53-57页 |
| ·其它类型三螺旋CGG和TAA中的负解离能 | 第57-61页 |
| ·结论 | 第61-63页 |
| 附录 | 第63-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 第三章 抗衡离子调控DNA空穴迁移过程中负解离能现象的发现 | 第74-104页 |
| ·研究背景 | 第74-75页 |
| ·计算细节 | 第75-77页 |
| ·结果与讨论 | 第77-90页 |
| ·空穴俘获后的几何构型的变化 | 第79-80页 |
| ·空穴的定域化及对俘获后产物[Na~+GC]~+的解离能的影响 | 第80-81页 |
| ·负解离能现象中化学键的性质分析 | 第81-82页 |
| ·负解离能现象的起源 | 第82-85页 |
| ·质子转移反应对负解离能现象的影响 | 第85-87页 |
| ·水化效应对负解离能现象的影响 | 第87-89页 |
| ·溶剂效应 | 第89-90页 |
| ·结论 | 第90-92页 |
| 附录 | 第92-100页 |
| 参考文献 | 第100-104页 |
| 第四章 氨基酸残基调控DNA空穴迁移中负解离能现象的发现 | 第104-138页 |
| ·研究背景 | 第104-106页 |
| ·计算细节 | 第106-107页 |
| ·结果与讨论 | 第107-122页 |
| ·几何构型 | 第107-110页 |
| ·负解离能现象的发现 | 第110-112页 |
| ·自旋密度的分布 | 第112-113页 |
| ·负解离能现象的本质以及AIM分析 | 第113-114页 |
| ·质子转移反应对负解离能的影响 | 第114-116页 |
| ·电子轨道以及静电势图形 | 第116-118页 |
| ·解离能与电离势两者之间的关系 | 第118-119页 |
| ·负解离能现象在空穴迁移中的应用 | 第119-122页 |
| ·结论 | 第122-124页 |
| 附录 | 第124-132页 |
| 参考文献 | 第132-138页 |
| 第五章 构造储能键 | 第138-160页 |
| ·研究背景 | 第138-139页 |
| ·计算细节 | 第139-141页 |
| ·结果与讨论 | 第141-152页 |
| ·储能键的本质 | 第141-142页 |
| ·构造储能键的条件 | 第142-144页 |
| ·水化效应对负解离能的影响 | 第144-146页 |
| ·取代基团对负解离能的影响 | 第146-151页 |
| ·储能键的键长与负解离能的关系 | 第151-152页 |
| ·结论 | 第152-153页 |
| 附录 | 第153-157页 |
| 参考文献 | 第157-160页 |
| 致谢 | 第160-161页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第161-163页 |
| 外文论文 | 第163-177页 |
