| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-16页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·电动助力系统简介 | 第10-13页 |
| ·EPS基本构造和工作原理 | 第10页 |
| ·EPS分类 | 第10-12页 |
| ·EPS优势 | 第12-13页 |
| ·EPS国内外研究状况 | 第13-14页 |
| ·本文研究内容和研究目的 | 第14-15页 |
| ·课题来源 | 第14页 |
| ·研究内容 | 第14-15页 |
| ·研究目的和意义 | 第15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 可靠性理论基础 | 第16-35页 |
| ·可靠性概述 | 第16-17页 |
| ·重要的可靠性指标 | 第17-19页 |
| ·可靠度 R(t)和系统失效概率 F(t) | 第17-18页 |
| ·失效分布密度函数 | 第18页 |
| ·失效率 | 第18-19页 |
| ·平均故障间隔时间(MTBF) | 第19页 |
| ·可靠性统计分布 | 第19-24页 |
| ·指数分布 | 第20-21页 |
| ·正态分布 | 第21-22页 |
| ·威布尔分布 | 第22-24页 |
| ·可靠性模型 | 第24-25页 |
| ·串联系统 | 第24-25页 |
| ·并联系统 | 第25页 |
| ·其他系统 | 第25页 |
| ·可靠性预计方法 | 第25-27页 |
| ·可靠性分析方法 | 第27-33页 |
| ·FMECA分析方法 | 第27-28页 |
| ·故障树分析方法 | 第28-33页 |
| ·故障树的建造 | 第29-30页 |
| ·建树方法 | 第29页 |
| ·建树规则 | 第29-30页 |
| ·故障树分析法的数学基础 | 第30-31页 |
| ·故障树的定量计算 | 第31-32页 |
| ·故障树的定性分析 | 第32-33页 |
| ·割集和最小割集 | 第32页 |
| ·用最小割集表示故障树的结构函数 | 第32-33页 |
| ·求最小割集的方法 | 第33页 |
| ·故障树方法的优缺点 | 第33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 基于故障树的可靠性仿真 | 第35-47页 |
| ·可靠性数字仿真 | 第35-38页 |
| ·系统仿真的发展 | 第35页 |
| ·数字仿真在可靠性分析中的应用 | 第35-36页 |
| ·可靠性仿真的国内外研究 | 第36-37页 |
| ·可靠性仿真在国外的应用情况 | 第36-37页 |
| ·可靠性仿真在国内的应用情况 | 第37页 |
| ·仿真的优点和局限性 | 第37-38页 |
| ·蒙特卡罗方法 | 第38-39页 |
| ·蒙特卡罗方法的基本思想 | 第38-39页 |
| ·蒙特卡罗方法的理论基础 | 第39页 |
| ·故障树法可靠性仿真 | 第39-46页 |
| ·用蒙特卡罗方法求系统可靠性指标 | 第40-44页 |
| ·可靠性仿真模型的建立 | 第40页 |
| ·可靠性仿真运行 | 第40-43页 |
| ·可靠性仿真结果处理 | 第43-44页 |
| ·故障树法可靠性仿真算法流程框图 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 C-EPS可靠性仿真及分析 | 第47-62页 |
| ·C-EPS系统功能结构分析 | 第47-48页 |
| ·C-EPS具体失效原因探求 | 第48-54页 |
| ·C-EPS无助力 | 第48-53页 |
| ·离合器失效断开 | 第49-50页 |
| ·MCU系统无信号输出 | 第50页 |
| ·MCU检测到零或故障信号而断开离合器 | 第50-52页 |
| ·电机驱动电路失效 | 第52-53页 |
| ·C-EPS误助力 | 第53-54页 |
| ·C-EPS系统可靠性仿真模型 | 第54-55页 |
| ·故障树底事件失效数据来源 | 第55-58页 |
| ·C-EPS系统可靠性计算机仿真 | 第58-60页 |
| ·C-EPS系统仿真结果分析 | 第60-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 C-EPS失效模式仿真及分析 | 第62-76页 |
| ·故障树定性分析 | 第62页 |
| ·最小割集算法 | 第62-63页 |
| ·上行法(又称 Semanderes算法) | 第62-63页 |
| ·下行法(又称 Fussel-Vesely算法) | 第63页 |
| ·布尔割集法(Boolean Indicated Cut Sets，简称 BICS) | 第63页 |
| ·C-EPS失效仿真算法 | 第63-66页 |
| ·故障树编码 | 第64页 |
| ·算法流程图 | 第64-66页 |
| ·质数编码法 | 第66页 |
| ·C-EPS失效模式仿真结果 | 第66-69页 |
| 5 4.1 C-EPS故障树最小割集 | 第66-67页 |
| ·失效模式重要度排序 | 第67-69页 |
| ·仿真结果分析 | 第69-75页 |
| ·BI传感器无信号输出 | 第69-71页 |
| ·MCU集成电路块无输出 | 第71-72页 |
| ·H桥驱动电路的MOS管击穿 | 第72-74页 |
| ·蜗轮蜗杆疲劳失效 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 EPS仿真系统简介 | 第76-86页 |
| ·仿真系统开发、运行环境 | 第76页 |
| ·仿真系统功能原理简介 | 第76-80页 |
| ·EPS系统控制策略仿真原理 | 第76-79页 |
| ·路感 | 第77页 |
| ·操纵稳定性 | 第77页 |
| ·C-EPS仿真控制模型 | 第77-79页 |
| ·基于 EPS控制模型的仿真 | 第79页 |
| ·EPS可靠性和失效模式仿真原理 | 第79-80页 |
| ·仿真系统界面及功能简介 | 第80-84页 |
| ·系统主界面 | 第80页 |
| ·控制策略仿真模块 | 第80-82页 |
| ·可靠性仿真模块 | 第82-84页 |
| ·仿真系统特点 | 第84-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 第七章 总结与展望 | 第86-88页 |
| ·全文总结 | 第86-87页 |
| ·展望 | 第87-88页 |
| 附录 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-93页 |
| 致谢 | 第93页 |