| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 概述 | 第8-18页 |
| ·课题的背景及意义 | 第8-13页 |
| ·COTS 的定义 | 第8页 |
| ·研究COTS 应用于高可靠系统的必要性 | 第8-11页 |
| ·选题的必要性和意义 | 第11-13页 |
| ·国内外研究情况 | 第13-17页 |
| ·政策和经费支持 | 第13-14页 |
| ·学术会议 | 第14-15页 |
| ·应用研究实例 | 第15-17页 |
| ·本课题的研究内容与目标 | 第17-18页 |
| 第2章 空间辐射环境及其效应 | 第18-40页 |
| ·空间辐射环境 | 第18-29页 |
| ·银河宇宙线 | 第19-22页 |
| ·太阳宇宙线 | 第22-26页 |
| ·地球辐射带 | 第26-29页 |
| ·电子元器件的空间辐射效应 | 第29-37页 |
| ·总剂量效应 | 第31-33页 |
| ·单粒子效应 | 第33-37页 |
| ·空间辐射环境仿真 | 第37-40页 |
| 第3章 COTS 应用于空间工程的可靠保证方法研究 | 第40-57页 |
| ·电子产品可靠性保证的一般方法 | 第40-43页 |
| ·采办阶段的可靠性保证方法 | 第40-43页 |
| ·使用阶段的可靠性保证方法 | 第43页 |
| ·COTS 可靠性保证的特点 | 第43-44页 |
| ·COTS 的可靠性保证试验 | 第44-56页 |
| ·可靠性测定试验 | 第44页 |
| ·升级筛选 | 第44-54页 |
| ·鉴定试验 | 第54-55页 |
| ·加速试验 | 第55-56页 |
| ·COTS 的可靠性保证设计 | 第56-57页 |
| 第4章 COTS 的总剂量试验方案设计 | 第57-63页 |
| ·试验目的 | 第57页 |
| ·试验系统组成 | 第57-58页 |
| ·辐射源 | 第58页 |
| ·试验对象 | 第58页 |
| ·试验参数设计 | 第58-60页 |
| ·总剂量及剂量率 | 第58-60页 |
| ·测试参数 | 第60页 |
| ·试验方案 | 第60-63页 |
| 第5章 试验结果分析 | 第63-77页 |
| ·试验概况 | 第63页 |
| ·总剂量试验结果 | 第63-70页 |
| ·06-5_ARM 试验响应图 | 第63-64页 |
| ·06-11_ARM 试验响应图 | 第64-69页 |
| ·07-1_flash 试验响应图 | 第69-70页 |
| ·无损筛选模型 | 第70-76页 |
| ·正态性检验原理 | 第70页 |
| ·初始功耗电流正态性检验 | 第70-71页 |
| ·电参数响应值的正态性检验 | 第71-73页 |
| ·建模及模型验证 | 第73-76页 |
| ·可靠性设计验证 | 第76页 |
| ·研究成果 | 第76-77页 |
| 第6章 结论 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 发表文章目录 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 附录 缩略语 | 第84页 |