| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| §1.1 研究背景 | 第12-14页 |
| §1.2 本论文的研究内容及其意义 | 第14-15页 |
| §1.3 论文章节概要 | 第15-16页 |
| 第二章 四圆单晶衍射仪工作原理 | 第16-34页 |
| §2.1 X射线 | 第16页 |
| §2.2 X射线晶体衍射原理 | 第16-18页 |
| §2.3 单晶衍射数据收集方法 | 第18-22页 |
| ·回摆法 | 第20页 |
| ·四圆单晶衍射仪法 | 第20-22页 |
| §2.4 四圆单晶衍射仪器结构 | 第22-26页 |
| ·X射线发生装置 | 第22页 |
| ·四圆测角仪 | 第22-24页 |
| ·辐射探测器 | 第24-25页 |
| ·计算机 | 第25-26页 |
| §2.5 四圆单晶衍射仪的晶体结构分析过程 | 第26-28页 |
| §2.6 四圆单晶衍射仪晶体分析的衍射几何与转换矩阵 | 第28-33页 |
| ·四圆单晶衍射仪晶体分析的衍射几何 | 第28-30页 |
| ·四圆单晶衍射仪晶体分析的衍射几何转换矩阵 | 第30-33页 |
| §2.7 四圆单晶衍射仪器的控制系统 | 第33-34页 |
| 第三章 四圆单晶衍射仪控制系统设计 | 第34-54页 |
| §3.1 四圆单晶衍射仪控制系统的整体结构 | 第34-35页 |
| §3.2 四圆单晶衍射仪控制系统总线与通讯命令设计 | 第35-37页 |
| ·四圆单晶衍射仪控制系统硬件总线设计 | 第35页 |
| ·四圆单晶衍射仪控制系统通讯命令设计 | 第35-37页 |
| §3.3 四圆单晶衍射仪控制系统的四圆测角仪控制部分设计 | 第37-46页 |
| ·四圆测角仪的控制模式选择 | 第37-40页 |
| ·步进电机驱动脉冲的产生 | 第40-41页 |
| ·单片机对步进电机的速度控制 | 第41-43页 |
| ·角度位置反馈模块的设计 | 第43-46页 |
| §3.4 四圆单晶衍射仪控制系统的半狭缝和X射线快门控制部分设计 | 第46页 |
| §3.5 四圆单晶衍射仪控制系统的衰减器和脉高分析器控制模块设计 | 第46-47页 |
| §3.6 四圆单晶衍射仪控制系统的X射线强度数据采集模块设计 | 第47-49页 |
| ·定时部分的设计 | 第47页 |
| ·CPLD的设计 | 第47-48页 |
| ·X射线强度数据采集模块的整体设计 | 第48-49页 |
| ·X射线强度数据采集模块的软件仿真 | 第49页 |
| §3.7 软件模块 | 第49-54页 |
| ·步进电机驱动程序 | 第50-51页 |
| ·设备驱动程序 | 第51-52页 |
| ·数据采集处理程序 | 第52页 |
| ·上位机控制函数程序 | 第52-54页 |
| 第四章 四圆单晶衍射仪计算机软件系统设计 | 第54-59页 |
| §4.1 四圆单晶衍射仪测量系统软件 | 第54-57页 |
| ·样品的对中 | 第55页 |
| ·四圆单晶衍射仪器初始化 | 第55页 |
| ·寻峰 | 第55-57页 |
| ·测定晶胞参数 | 第57页 |
| ·衍射强度数据的自动收集 | 第57页 |
| §4.2 单晶结构分析程序SHELXTL软件 | 第57-58页 |
| §4.3 晶体结构图的绘图软件 | 第58-59页 |
| 第五章 四圆单晶衍射仪控制系统的抗干扰设计 | 第59-61页 |
| 第六章 总结和展望 | 第61-63页 |
| §6.1 总结 | 第61-62页 |
| §6.2 展望 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 附录 | 第66-72页 |
