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高精度电压调整二极管的研制

摘要第1-12页
ABSTRACT第12-13页
目录第13-15页
第一章 基本理论第15-22页
   ·pn结理论第15-18页
   ·pn结的击穿第18-22页
第二章 台面硅电压调整二极管常用的几种制造方法第22-29页
   ·扩散法第22-23页
   ·合金法第23-27页
     ·合金pn结的制作原理第23-24页
     ·合金pn结的结深第24页
     ·合金条件的考虑第24-27页
   ·外延法第27-29页
第三章 硅气相外延基本生长技术的研究第29-33页
   ·硅化学气相外延技术第29页
   ·不同外延方法的分析与比较第29-33页
     ·四氯化硅氢还原法外延第29-31页
     ·硅烷热分解法第31-32页
     ·选择外延第32-33页
第四章 高精度电压调整二极管的设计考虑第33-39页
   ·制作方法考虑第33页
   ·外延法制作电压调整二极管第33-34页
   ·外延生长系统的改进措施第34-36页
   ·半导体材料的选择第36页
   ·外延层参数的确定第36页
     ·外延层厚度第36页
     ·外延层电阻率第36页
   ·多层结构外延工艺第36-37页
   ·温度系数的测试第37-39页
     ·目的第37页
     ·操作第37页
     ·温度系数测试方法及其计算第37页
     ·温度系数对比测试第37-39页
第五章 微缺陷成因及重金属杂质的影响第39-45页
   ·微缺陷种类及其成因第39-43页
     ·表面缺陷的分析第39-41页
     ·内部晶格缺陷的分析第41-43页
   ·重金属杂质的危害第43-44页
   ·减少微缺陷及重金属沾污的措施第44-45页
第六章 结束语第45-46页
参考文献第46-47页
致谢第47-48页
附1第48-49页
附2第49页

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