| 第一章 绪论 | 第1-12页 |
| ·武器装备小子样试验分析的研究动态 | 第6-9页 |
| ·Bayes序贯决策的基本概念 | 第9-10页 |
| ·论文的研究内容与组织 | 第10-12页 |
| 第二章 基于Bayes序贯决策的落点散布鉴定问题 | 第12-21页 |
| ·Bayes序贯决策中落点散布问题的相关概念 | 第12-13页 |
| ·落点散布鉴定问题的Bayes风险 | 第13-18页 |
| ·决策中犯两类错误的概率 | 第18-19页 |
| ·落点散布的验前信息 | 第19-21页 |
| 第三章 落点散布鉴定的截尾问题 | 第21-33页 |
| ·Bayes截断过程简介 | 第21-23页 |
| ·落点散布鉴定的m-截断过程 | 第23-29页 |
| ·m-截断的Bayes序贯截尾方案 | 第23-26页 |
| ·m-截断中犯两类错误的概率 | 第26-29页 |
| ·截尾法的进一步讨论 | 第29-33页 |
| ·m-步向前看过程 | 第29-31页 |
| ·m-内截断 | 第31-33页 |
| 第四章 其他损失函数在武器试验分析中的应用 | 第33-38页 |
| ·落点密集度的损失函数 | 第33-36页 |
| ·系统偏差的损失函数 | 第36-38页 |
| 第五章 总结 | 第38-39页 |
| 致谢 | 第39-40页 |
| 参考文献 | 第40-42页 |